抗干扰介质损耗测试仪 NXJS-V

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产品型号:NXJS-V
 牌:武汉华电南星
公司名称:成都贝斯达仪器有限公司
  地:四��成都
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产品简介

NXJS-V型抗干扰介质损耗测试仪
1.量程:
电容值:3pF-60nF    介损值:0~100%
2.精度:
   a) 电容精度:±(1.0%读数+5pF)
   b) 介损精度:±(1%读数+0.04%)
   c)  频率精度: ±0.01

产品详细信息

NXJS-V型抗干扰介质损耗测试仪
 一、技术指标
1.量程:
电容值:3pF-60nF    介损值:0~100%
2.精度:
   a) 电容精度:±(1.0%读数+5pF)
   b) 介损精度:±(1%读数+0.04%)
   c)  频率精度: ±0.01
3.分辨率:
   电容分辨率:*小可分辨0.001 pF
    介损分辨率:*小可分辨0.001%
4. 高压电源: 设定范围:0.5~10kV      *大输出电流:200mA
5.  低压输出:输出电压3--50V   输出电流3—30A
6.工作环境:
   工作电源:AC220V ±10%,50±1Hz
   工作温度:0~40℃
   环境湿度:≤90%RH,不结露
7.重量:28kg

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