冷热循环冲击测试机 BE-CH-50A

冷热循环冲击测试机用途 ：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

冷热循环冲击测试机的概述
一、用途 ：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
二、性能特点：
（1）气动式阀门方便开启，保证气密及断热保护；
（2）试验槽完全静止，可由测试孔外加负载配线；
（3）蓄能方式可避免使用者职业伤害；（注：液态气体所产生的废气，吸入肺部致使肺部氧气量减少，而产生工作倦怠，注意力不集中等）
（4）采用触控式彩色液晶显示人机接口控制器，操作简单，学习容易；
（5）温度制御精度高，全部采用PID自动演算制御；
（6）可选择始动位置，高温或低温开始循环；
（7）具有预约起动功能；
（8）可设定循环次数及自动除霜；
（9）运动状态显示；
（10）有异常或者故障显示及排除方法说明；
三、控制方式与特色︰利用低温及高温蓄冷热储存槽，依动作需要打开DAPER，达到快速冲击效果；平衡调温控制系统(BTC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定使用。
四、主要性能参数冷式水温在25℃，空载时
序号 型号规格 试验室（WXHXD） 外箱尺寸（WXHXD）
01 BE-CH-50A 400 X 350 X 360(mm) 1560 X 1950 X 1380(mm)
4.1 试验槽温度范围：-55℃～+150℃
4.2 低温槽温度范围：-55℃～+10℃
4.3 高温槽温度设定范围: +60℃～+200℃
4.4 高温槽升温速度: 平均约5℃/MIN
4.5 低温槽降温速度: 平均约1.5℃/MIN
4.6 温度波动度: ±0.5℃
4.7 温度偏差:   ±2.0℃
4.8 温度恢复时间: ≤5分钟
4.9 高低温暴露时间: 30MIN以上
4.10 内箱材质:镜面不锈钢板
4.11 外箱材质: 不锈钢板
4.12 试样搁架承载能力: 30KG