CMI900X-RAY镀层测厚仪 CMI900

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产品价格： < 面议

产品型号：CMI900

品牌：其它品牌

公司名称：深圳市大茂电子有限公司

所在地：广东深圳

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产品简介

CMI 900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大  的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层  厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品  质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows2000  中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，  实现了对CMI900主机的**自动化控制，分析  中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测  定*多5层、15 种元素。数

产品详细信息

CMI900 系列

先进的材料分析仪器

新型CMI900系列即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们X线系列产品的性能。CMI900系列能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。

区别材料并测量氮化钛镀层。CMI900系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。

像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供**的服务。

测量和材料分析系统软件

所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。

规格简介

l 无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题

l 包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体

l 5层/15种元素/普通元素效正

l 同时为多达15种元素进行成份分析

l 贵重金属分析和金纯度检查

l 材料与合金元素分析

l 材料鉴定与区别

l 吸收测量方式

l 液体分析：分析液体中的金属，如电镀液

l 系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化

l 光谱计数速率峰值位移效正

l 重叠荧光峰值数字峰值反卷

l 定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱

l Oxford统计数字和报告产生器LE（轻型）

Oxford SmartLink补充软件系列

l Oxford统计数字和报告产生器

l 配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器

l Oxford即时分析

l Oxford材料区别

l Oxford Percent P

有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，*小值，*大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。

l 配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。

l Oxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化CMI900系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。

激励

l 下视X线。X线射束90度采样

l 风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。

电力：*大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mA

l 准直管：多个（*多6个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）

l 主要过滤器：提供各种厚度及材料

X线探测器和信号处理

l X线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体

l 探测器过滤器：*多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素

l 高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能