TA610\620\630\631 测量(微调)平台 TA610\620\630\631
产品简介
TA610\620\630\631 测量(微调)平台:TA610测量平台,齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。TA620测量平台,丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量平台。TA630微调平台,X—Y平面转角,俯仰角。TA631微调平台,X—Y平面转角。TA630、631都用来较小幅度的,准确调整被测量工件的位置,提高测量精度。 TA610\620\630\631 测量(微调)平台
产品详细信息
TA610测量平台:
齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。
花岗岩平台工作面精度:00级(平面公差值3μm)
花岗岩平台大小尺寸:400mm×250mm×70mm
垂直升降高度:270mm
垂直升降微调量:20mm
TA620测量平台:
丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量精度。
花岗岩平台工作面精度:00级(平面公差值3μm)
花岗岩平台大小尺寸:400mm×250mm×70mm
垂直升降高度:300±1mm
升降回程误差:≤手轮旋转1/6圈
TA630微调平台:
X—Y平面转角,俯仰角。
调整范围:X向 ±12.5mm Y向:±12.5mm
旋转角度:粗调 360 微调±5 俯仰角度 0~5
TA631微调平台:
X—Y平面转角。
调整范围:X向 ±12.5mm Y向:±12.5mm
旋转角度:粗调 360 微调±5
TA610\620\630\631 测量(微调)平台