产品简介
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
产品详细信息
HP-501型四探针探头 | HP-504型四探针探头 |
HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 |
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◆ 特性及规格: |
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1 | 特制之手握式探笔 | 2 | 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 | 3 | 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 | 4 | 探头使用寿命长 | 5 | 探针间距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ |
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◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格: |
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型号 (Model) | 曲率半径 (Radius) | 压力 (loads) | 探针间距 (spacing) | 探针排列 (Arrangement) | HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直线 | HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直线 | HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直线 | HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直线 |
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