梅特勒天平XS超越系列 XS105DU

天平特点

梅特勒-托利多，XS超越系列分析天平展示****的称量性能、****的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求，确保更高的生产效率并使操作更**。

■ 采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果

■ 全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性

■ 变量程**设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求

■ **性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果

■ 易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量

■ 触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置

■ 可移动的显示控制终端，方便天平使用

■ 完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁

■ 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备

■ 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

■ 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

■ e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新

梅特勒天平XS超越系列技术参数

(1)按照OIML76标准  （2）温度范围10—30  (3)灵敏度漂移/年（天平**使用后），激活FACT全自动校准技术  (4)包括样品处理时间设置