X—Ray超高分辨率CCD相机 CCD
产品简介
我们开始为*终客户和OEM提供X—Ray超高分辨率CCD相机已经有3年的历史。一种高响应度的CCD相机。有着低噪声特性和*佳光子收集与*好的信噪比。尤其在低光条件,曝光模式下允许100%的占空比和高灵敏度的操作。
产品详细信息
特性:
探测器输出时小像素尺寸<32微米
2x20MHz的复用扫描频率
大面积传感器
极低的暗电流<0.05e/pixel/s
选通时间从几微秒到>30min
空气制冷/水冷选项
同时集成/采集读出能达到100%占空比
应用 :
微衍射
X光成像
X光显微CT
劳厄成像
高达50keV的蛋白质晶体
射线散射
粉末衍射
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2200万像素 |
3200万像素 |
阵列规格 |
4008(H)×5344(V)CCD阵列 |
9744(H)×3248(V)CCD阵列 |
输入像素尺寸 |
31.18 x 31.18µm |
25.63 ×25.63µm |
输入尺寸 |
124.96 x 166.14mm(tiled array) |
250 x 83.07mm(slot array) |
fps |
1.8FPS全分辨率@20 MHz 5FPS binning4 x 4@1002x1336 |
1.1FPS全分辨率@2x20MHz 3FPS binning4x4@2436x812 |
读出噪声 |
14-18 e@20MHz可插值降噪 |
12-16 e@2x20 MHz可插值降噪 |
满阱容量 |
45000 e@分级 2x2 |
25000 e@分级 1x1 50000 e@分级 2x2 |
输出字节 |
16-bit 动态扩展范围 |
16-bit 动态扩展范围 |
输出接口 |
USB2.0接口 |
USB2.0接口 |
同步/控制 |
TTL脉冲电平或像素时钟 |
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Csl:实现30-100keV TI结构的闪烁基数器操作 |
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5-55 keV的操作环境下10线/毫米的*小特征识别GdOS:Tb闪烁 |
通常为50微米的输入尺寸 |
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暗电流 |
<0.05e/pixel/s |
0.05e/pixel/s |