CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规 CH-1-S
产品简介
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产品详细信息
CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规适用范围:本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规格参数:
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上测头曲率半径:15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
4. 测量精度:100vm以内<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm
CH-1-S 薄膜测厚仪,皮革测厚规格参数:
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上测头曲率半径:15-50mm
3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N
4. 测量精度:100vm以内<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm