**型高低温冲击试验箱 BE-CHK-150
产品简介
**型高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料 对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品 质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
产品详细信息
**型高低温冲击试验箱规格
一、产品名称：
一、产品名称：
1.01.名 称：冷热冲击试验箱
1.02.型 号：BE-CH-150B
二、容积和尺寸：
2.01.容 积：150L
2.02.内箱尺寸：W600 X H500 X D500mm
2.03.外箱尺寸：W1800 X H1900 X D1650mm;
三、用途 ：
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料
对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品 质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
四、性能特点：
4.01.气动式阀门方便开启，保证气密及断热保护；
4.02.试验槽完全静止，可由测试孔外加负载配线；
4.03.蓄能方式可避免使用者职业伤害；（注：液态气体所产生的废气，吸入肺部致使肺部氧
气量减少，而产生工作倦怠，注意力不集中等）
4.04.采用触控式彩色液晶显示人机接口控制器，操作简单，学习容易；
4.05.温度制御精度高，全部采用PID自动演算制御；
4.06.可选择始动位置，高温或低温开始循环；
4.07.具有预约起动功能；
4.08.可设定循环次数及自动除霜；
4.09.运动状态显示；
4.10.有异常或者故障显示及排除方法说明；
五、符合标准：
GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150等
六、控制方式与特色︰
利用低温及高温蓄冷热储存槽，依动作需要打开DAPER，达到快速冲击效果；平衡调温控
制系统(BTC)，以P.I.D.方式控制SSR，使系统之加热量等于热损耗量，故能长期稳定使
用。
七、主要性能参数:水冷式水温在25℃，空载时
7.01.冲击温度范围： -55℃～+150℃
7.02.低温槽温度范围： -70℃～-10℃
7.03.高温槽温度设定范围: +60℃～+200℃
7.04.高温槽升温速度: RT（室温）～+200℃ 约55min（室温在10~30℃时）
7.05.低温槽降温速度: RT（室温）～-55℃ 约65min（室温在10~30℃时）
7.06.温度波动度: ±1.0℃
7.07.温度偏差: ±2.0℃
7.08.温度转换时间: ≤5min
7.09.高低温暴露时间: 30min以上
7.10.内箱材质: 镜面不锈钢板(SUS #304 1.0mm厚)
7.11.外箱材质: 不锈钢(SUS #304 1.0mm厚)
7.12.试样搁架承载能力: 30KG
7.13.保温材质: 聚胺脂硬质发泡
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