表面沾污仪 AOD-WIMP60M
产品简介
产品特点: •自带电子微处理控制器 •与PC连用,进行数据控制和处理功能 •实时、区分α、β/γ测量;集成刻度软件 •沾污样品滤纸和气溶胶滤纸直径可达220mm •测试过程中,样品可放置于滤纸上 •无需气体供应,维护方便 •可调功能:核素选择、沾污因子、检测表面、检测时间、报警域值、检测通道等 技术参数: •薄层镀ZnS塑料闪烁体探测器 •集成光电倍增管和探测器电子单元 □ 实时、区分α、β/γ测量 •配有大面积LCD显示(240×128象素)、背光(微处理器版) •人机交互测试系统 •基于PC版(外接显示器) •显示单位计数CPS或者活度(Bq, Bq/cm3, Bq/m3) •计算显示检测限,自动本底补偿,串联测量 •核素库,自由编程 •用户菜单结构界面友好,按键和触摸屏操作 型号 •WIMP 60 (滤纸直径*大60mm)
产品详细信息
产品特点:
•自带电子微处理控制器
•与PC连用,进行数据控制和处理功能
•实时、区分α、β/γ测量;集成刻度软件
•沾污样品滤纸和气溶胶滤纸直径可达220mm
•测试过程中,样品可放置于滤纸上
•无需气体供应,维护方便
•可调功能:核素选择、沾污因子、检测表面、检测时间、报警域值、检测通道等
技术参数:
•薄层镀ZnS塑料闪烁体探测器
•集成光电倍增管和探测器电子单元 □ 实时、区分α、β/γ测量
•配有大面积LCD显示(240×128象素)、背光(微处理器版)
•人机交互测试系统
•基于PC版(外接显示器)
•显示单位计数CPS或者活度(Bq, Bq/cm3, Bq/m3)
•计算显示检测限,自动本底补偿,串联测量
•核素库,自由编程
•用户菜单结构界面友好,按键和触摸屏操作
型号
•WIMP 60 (滤纸直径*大60mm)
WIMP 60 M 移动便携式
WIMP 60 C 微处理控制器版
WIMP 60 PC PC版
•W IMP 120 (滤纸直径*大120mm)
WIMP 120 C 微处理控制器版
WIMP 120 PC PC版
•W IMP 220 (滤纸直径*大220mm)
WIMP 220 C 微处理控制器版
WIMP 220 PC PC版
•多路型号沾污仪 (滤纸直径*大60mm)
WIMP 60×6
WIMP 60×8
WIMP 60×10
(多路可同时进行测量,只能与PC连用)
软件
•专用软件,操作简便,适用于Windows操作平台
•可调功能:核素选择、沾污因子、检测表面、检测时间、报警域值、检测通道等
•自定义测试物品(容器、工具、燃料元件外壳)
•计算检测限,自动刻度功能,数据存储
•自带电子微处理控制器
•与PC连用,进行数据控制和处理功能
•实时、区分α、β/γ测量;集成刻度软件
•沾污样品滤纸和气溶胶滤纸直径可达220mm
•测试过程中,样品可放置于滤纸上
•无需气体供应,维护方便
•可调功能:核素选择、沾污因子、检测表面、检测时间、报警域值、检测通道等
技术参数:
•薄层镀ZnS塑料闪烁体探测器
•集成光电倍增管和探测器电子单元 □ 实时、区分α、β/γ测量
•配有大面积LCD显示(240×128象素)、背光(微处理器版)
•人机交互测试系统
•基于PC版(外接显示器)
•显示单位计数CPS或者活度(Bq, Bq/cm3, Bq/m3)
•计算显示检测限,自动本底补偿,串联测量
•核素库,自由编程
•用户菜单结构界面友好,按键和触摸屏操作
型号
•WIMP 60 (滤纸直径*大60mm)
WIMP 60 M 移动便携式
WIMP 60 C 微处理控制器版
WIMP 60 PC PC版
•W IMP 120 (滤纸直径*大120mm)
WIMP 120 C 微处理控制器版
WIMP 120 PC PC版
•W IMP 220 (滤纸直径*大220mm)
WIMP 220 C 微处理控制器版
WIMP 220 PC PC版
•多路型号沾污仪 (滤纸直径*大60mm)
WIMP 60×6
WIMP 60×8
WIMP 60×10
(多路可同时进行测量,只能与PC连用)
软件
•专用软件,操作简便,适用于Windows操作平台
•可调功能:核素选择、沾污因子、检测表面、检测时间、报警域值、检测通道等
•自定义测试物品(容器、工具、燃料元件外壳)
•计算检测限,自动刻度功能,数据存储