VLSI 测试系统 Model 3360-D
产品简介
Model 3360-D VLSI 测试系统
产品详细信息
主要特色:
- 50 MHz 测试频率
- 32/64 个 I/O 通道
- 8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
- 弹性化硬体结构
- 平行测试 : *多 8 DUTs
- Real Parallel Trim/Match 功能
- 时序频率测试单位 Timing / Frequency measurement unit (TFMU)
- 测试程式/pattern 转换器 (V7, V50, SC312, J750)
- Analog PE card 选配 (16 bits)
- SCAN 测试 选配 (512M)
- ALPG 测试 选配供记忆体用
- STDF 工具支援 (选配)
- 人性化 Windows XP 操作环境
- CRAFT C/C++ 程式语言
- 即时pattern编辑器,含Fail pin/address显示
- 多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool, Histogram tool and etc.
The Full Application Functions – Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match⋯etc
3360-D Bridge Test Development to Mass-Production