便携式探伤仪 350
产品简介
便携式探伤仪简介: 350型全数字智能便携式探伤仪,采用新型大屏幕高亮度TFT真彩显示屏,仪器造型优美,体积小巧,屏幕大,强光下无需遮光能清晰显示,仪器功能强劲,性能稳定,操作简便,是一款性能价格比的笔记本式超声波探伤仪。
产品详细信息
超声波探伤仪介绍:
一款功能实用、性能的数字式超声探伤仪,其质量水平符合国标(JB/T10061-1999)要求。采用一体化电路,免维护设计;便于仪器升级!
超声波探伤仪功能和特点:
※一款操作及其方便的数字式超声波探伤仪,大量了繁琐的操作选项,使用起来得心应手。
※ 采用工控型CPU系统,双CPU协同工作,仪器控制部分与数据处理工作,系统运行高速可靠,现场性能。
※ 中文触摸式键盘,直观易记;中文操作提示,容易掌握,使用方便。
※ 自动测定仪器和探头性能,仪器校准自动化,可测量材料厚度和材料声速。日历时钟,仪器能自动记录工作日期和时间。
※ 10个探伤频道(可扩展至500个频道),多种探伤工艺和探伤标准自动生成,可自由设置各行业探伤工艺标准,现场探伤无需携带试块。
※ 回波抑制1~90%任意可调,不影响仪器增益和线性。
※ DAC、AVG曲线自动生成并能分段制作,取样点不受限制,并可进行补偿与修正。DAC曲线随增益自动浮动随声程自动扩展。可实现指定回波的距离波幅补偿。
※ 缺陷回波参数(距离、水平、垂直、波幅、dB当量、孔径Φ值)实时显示。
※ 具有峰值记忆、回波包络、波形冻结、焊缝截面示意等功能。
※ 进波报警功能,门位、门宽、门高任意可调。
※ 500组探伤工艺和数据存贮,FLASH RAM存储器技术(同黑匣子),离电保存。
※ 数据处理能力强,可按日期和序号进行检索和处理,可与计算机实现数据通讯。打印报告无需专配打印机。
※ 锂电池供电,低功耗设计,可连续工作8小时以上。低电压工作报警和自动保护关机。
※ 真彩显示,大屏幕、高清晰、宽视角,不受电磁场干扰。在强阳光下无需遮光罩,就能获得满意的观察效果。
※ 薄(厚仅50mm)、轻(含电池1.2Kg),单手把握的扶手和设计合理的背带,使您在探伤时轻松自如,尤其适宜高空作业和移动性大的场合。
超声波探伤仪主要技术指标:
项目 |
CXUT-320 |
CXUT-350B |
CXUT-390 |
探头方式: |
直、斜、双晶、窜透 |
√ |
√ |
增益范围: |
0~110dB(0.1,2.0,6.0dB步进) |
√ |
√ |
探测范围: |
1~6000.0mm钢纵波 |
1~90000.0mm |
1~12000.0mm |
频带宽度: |
0.4~15.0MHz |
√ |
√ |
水平线性: |
<0.1% |
√ |
√ |
垂直线性: |
<3.0% |
√ |
√ |
分 辨 率: |
>32dB |
√ |
>40dB |
动态范围: |
>30dB |
>32dB |
>36dB |
灵敏度余量: |
>58dB(2.5MHz Φ20) |
>58dB |
>60dB |
闸 门: |
门位、门宽、门高连续可调 |
√ |
√ |
DAC、AVG曲线: |
任意点,可选择 |
√ |
√ |
打印输出: |
存储波形和数据 |
√ |
√ |
显 示 器: |
国产 |
夏普 |
京瓷 |
电池工作时间: |
>6小时 |
√ |
√ |
工作温度: |
-20℃~50℃ |
√ |
√ |
电 源: |
7.2VDC,AC |
√ |
√ |
外形尺寸: |
235(高)×140(宽)×50(厚)(mm) |
√ |
√ |
整机重量: |
1.2Kg |
√ |
√ |
便携式探伤仪其他型号参数指标参数:
项 目 |
指 标 |
项 目 |
指 标 |
增益范围 |
120dB 0.1,1.0,2.0,6.0步进 |
闸 门 |
直方门和DAC门可选 进波门和失波门参数可调 |
频带宽度 |
0.4~15.0MHz |
声程位移 |
0~5800mm(钢中纵波) |
探测范围 |
0~6000.0mm(钢中纵波) |
打印输出 |
屏拷数据和存储数据 |
探头方式 |
单晶,双晶,穿透 |
显示器 |
5.7"高亮 TFT LCD |
水平线性 |
≤0.1% |
工作时间 |
≥6小时 |
垂直线性 |
≤3% |
工作温度 |
-20℃~50℃ |
分辨力 |
≥30dB |
电 源 |
16VDC;AC |
灵敏度余量 |
≥65dB |
外形尺寸 |
250(高)X140(宽)X50(厚) |
动态范围 |
≥32dB |
整机重量 |
1.6Kg(含锂电池) |
支持动态录像功能,可记录4 个动态记录文件,每个文件可以以16 帧/ 秒的速度记录2 分钟实时波形。(可外接U
探伤功能:
波峰记忆:实时检索缺陷高波,标定缺陷大值
实用AVG:实用AVG 曲线、自动换算缺陷φ 值(X>3N,N 为近场距离)
动态记录:检测实时动态记录波形,存储、回放
缺陷定位:实显水平值P、深度值D、声程值S
缺陷定量:实显SL 定量值(DAC 曲线实时定量)
缺陷定性:通过包络波形,人工经验判断
曲面修正:曲面工件探伤,修正曲率换算