涂层测厚仪 KD-1
产品简介
涂层测厚仪 KD-1 涂层测厚仪 KD-1测量范围：0-1200um，测量精度：±（3%厚度值+1）um存储容量：253个测量值（带日期），（可连接打印机）时钟、日期显示显示方式：EL背光、全中文汉显、全属机壳测量材料：非铁基外型尺寸：50×95×24mm
产品详细信息
涂层测厚仪 KD-1
测量范围：0-1200um
测量精度：±（3%厚度值+1）um
存储容量：253个测量值（带日期）
（可连接打印机）时钟、日期显示
显示方式：EL背光、全中文汉显、全属机壳
测量材料：非铁基
外型尺寸：50×95×24mm
测量范围：0-1200um
测量精度：±（3%厚度值+1）um
存储容量：253个测量值（带日期）
（可连接打印机）时钟、日期显示
显示方式：EL背光、全中文汉显、全属机壳
测量材料：非铁基
外型尺寸：50×95×24mm
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