涂镀层厚度测量仪XUV

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品牌：其它品牌

公司名称：宁波旗辰仪器有限公司

所在地：浙江宁波

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产品简介

本公司提供的XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na（11）开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线，因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此，该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。

特性：

1、检出限低、重复精度高，以及测量适用性广，因此特别适用于研究和开发使用

2、配备真空测量室和高性能硅漂移探测器，能够实现准确测量，尤其是对轻元素的测试

3、通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试

4、准直器和滤波器可切换，因此可适用于各种材料和测试条件

应用：

涂层厚度测量

1、原子序数从Na（11）开始的轻元素镀层，可测量厚度低至纳米级

2、铝镀层和硅镀层

材料分析

1、测定宝石的真伪与原产地

2、常规材料分析和取证

3、高分辨率恒量分析

OCS吊钩秤

外径千分尺

FTS512全站仪

ZTS602/602R全站仪

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