F1/N1探头 F1/N1探头
产品简介
ＴＴ２６０覆层测厚仪F1/N1探头参数,F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT260的标配探头,N1探头是涡流法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT260的标配探头。
产品详细信息
F1/N1探头参数
的详细介绍
F1探头
F1探头是磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT260的标配探头。
F1/N1探头参数 | F1 | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围（um） | 0-1250 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
测量条件 | *小曲率半径(mm) | 凸1.5 |
基体*小面积的直径(mm) | ф7 | |
*小临界厚度(mm) | 0.5 | |
探头尺寸（mm) | ф12X47 | |
N1探头
N1探头是涡流法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT260的标配探头。
F1/N1探头参数 | N1 | |
工作原理 | 电涡流 | |
测量范围（um） | 0-1250(铜上镀铬0-40um) | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1.5] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+1.5] | |
测量条件 | *小曲率半径(mm) | 3 |
基体*小面积的直径(mm) | ф5 | |
*小临界厚度(mm) | 0.3 | |
探头尺寸（mm) | ф15X73 | |
TT260选配F400探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更**的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是*佳的选择。
涂层测厚仪F400探头
- 工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
- 测量范围：0-400um
- 示值误差：
- 一点校准：±[3%H+1]um
- 两点校准：±[（1～3）%H+0.7]um
- 测量条件:
- *小曲率半径：凸1mm
- 基体*小面积的直径：Ф3mm
- *小临界厚度：0.2mm
- 探头尺寸：Ф12X55mm
TT260选配F10探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。
涂层测厚仪F10探头
- 工作原理：磁感应 | 分辨力：10um
- 测量范围：0-10000um
- 示值误差：
- 一点校准：±[3%H+10]um
- 两点校准：±[（1～3）%H+10]um
- 测量条件:
- *小曲率半径：凸10mm
- 基体*小面积的直径：Ф40mm
- *小临界厚度：2mm
- 探头尺寸：Ф27X47mm
TT260选配CN02探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10-200um之间。
涂层测厚仪CN02探头
- 工作原理：电涡流 | 分辨力：1um
- 测量范围：10-200um
- 示值误差：
- 一点校准：±[3%H+1]um
- 两点校准：—
- 测量条件:
- *小曲率半径：平直
- 基体*小面积的直径：Ф7mm
- *小临界厚度：无限制
- 探头尺寸：Ф16X67mm
TT260选配F1/90探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。
涂层测厚仪F1|90探头
- 工作原理：磁感应 | 分辨力：0.1um
- 测量范围：0-1250um
- 示值误差：
- 一点校准：±[3%H+1]um
- 两点校准：±[（1～3）%H+1]um
- 测量条件:
- *小曲率半径：平直
- 基体*小面积的直径：Ф7mm
- *小临界厚度：0.5mm
- 探头尺寸：Ф7.5X11X200mm
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