膜厚监测仪 EQ-TM106
产品简介
EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合先进的频率测量技术,进行膜厚的在线监测。主要应用于MBE、OLED热蒸发、磁控溅射等设备的薄膜制备过程中,对膜层厚度及镀膜速率进行实时监测。根据实时速率可以输出PWM模拟量,作为膜厚传感器使用,与调节仪和蒸发电源配合实现蒸发源的闭环速率控制。
产品详细信息
性能指标和基本配置 | ||||||
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主要特点 |
● 本机可与计算机连接。 |
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EQ-TM106-1监测组件 |
● 电源:DC 5V(±10%),*大电流400mA |
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EQ-TM106-2显示仪 |
● 输入电源:AC 220V±10% |
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EQ-TM106-3探头 |
● 适用晶片频率:6MHz |
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标准配件 |
1EQ-TM106-1监测组件1个2EQ-TM106-2显示仪1台3EQ-TM106-3探头1个 |
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保修期 |
一年保修,终身技术支持。 点击查看售后服务承诺书。 |
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