供应Optical MicroGauge (厚度计測装置) C11623 C11623

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产品型号:C11623
 牌:日本滨松
公司名称:全球防静电网
  地:广东深圳
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产品简介

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产品详细信息

Optical MicroGauge (厚み計測装置) C11623
半導体市場では貫通電極(TSV)技術の採用により、シリコン厚の測定が重要視され、フィルム市場では接着層の薄膜化が進み、共に1μm300μmの範囲での高精度な厚み測定が必要とされています。
 Optical MicroGauge C11623は、光干渉法を利用した非接触の厚み計測装置です。シリコン厚みから薄膜測定までに対応し、半導体フィルム市場で多用される0.5 μ700 μmの測定範囲を測定可能です。
特 長
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マッピング機能対応
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光学定数(nk)解析可能
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外部機器から制御可能




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