光学薄膜厚度测量仪F37 F37

用F37实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数（n和k值）和半导体以及电介质层的均匀性。         样品层：         可以测量平滑和半透明的，或者轻度吸收的薄膜。 这实际上包括那些使用在薄膜光伏产品内的任何半导体材料。

产品简介：
         用F37实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数（n和k值）和半导体以及电介质层的均匀性。
         样品层：
         可以测量平滑和半透明的，或者轻度吸收的薄膜。 这实际上包括那些使用在薄膜光伏产品内的任何半导体材料。
产品特性：
         极大地提高生产率
         快速—几秒钟完成测量
         **—测量精度高于±1%
         低成本—几个月就能回收其自身的成本
         非侵入式—测试完全在沉积室以外进行
         易于使用—直观的Windows™ 软件