Bowman 膜厚仪 XDL210

     Bowman  膜厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合无损测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板.其比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量.为了使每次测量都能在**的条件下进行,仪器配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片.无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量.并且有着良好的长期稳定性,不用经常佼准仪器,可节省时间.

Bowman  膜厚仪典型的应用领域有:

1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板.

Bowman  膜厚仪可测元素范围：
氯(CL) – 铀(U)

fischer  膜厚仪可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器

Bowman  膜厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.是一款性能强大的膜厚测试仪，相对其他品牌，更**、更稳定、操作更简便。



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