SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪

    SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印，使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强等优点。SXJS-IV体积小、重量轻，是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪技术指标
1、环境温度：0~40℃（液晶屏应避免长时日照）
2、相对湿度：30％~70％
3、供电电源：电压：220V±10％，频率50±1Hz
4、外形尺寸：长×宽×高=4900mm×300mm×390mm
5、重量：约18kg
6、输出功率：1KVA
7、显示分辨率：4位
8、测量范围：
介质损耗（tgδ）：0-50％
电容容量（Cx）和加载电压：
2.5KV档：≤300nF（300000pF）
3KV档：≤200nF（200000pF）
5KV档：≤ 76nF（ 76000pF）
7.5KV档：≤ 34nF（ 34000pF）
10 KV档：≤ 20nF（ 20000pF）
9、基本测量误差：
介质损耗(tgδ)：1％±0.07％（加载电流20μA~500mA）正接
介质损耗(tgδ)：2％±0.09％（加载电流 5μA~ 20mA）反接
电容容量( Cx )：1.5%±1.5pF

SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪结构
仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV~10KV五档可调，以适应各种需要，在测量对无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。

SXJS-IV型智能化介质损耗测试仪工作原理
仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路，如图三所示。
标准回路由内置高稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品的电容容值（Cx）和其介质损耗（tg）。
数据采集电路全部采用高稳定度器件，采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽，仪器的外壳接地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，故测量结果稳定、**、可靠。
由图三可见，仪器高压变压器的高压侧和测量线路都是浮地的，用户可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接线方式。如采用“正接线法"进行测量时，可将“E"点接地；而当采用“反接线法"进行测量时，可将“UH"点接地，而将E点浮空。
图中除测试品Cx外，其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳能承受15KV工频高压5分钟，额定耐压10KV。仪器内附标准电容CN，名义值为50PF，tgδ≤0.0001，耐压10KV。高压变压器，额定输出功率为1KVA。
★“E"点为仪器的内屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连，不是大地，与仪器的外壳也不连通！！！