单通道短波254nm灯紫外辐照计 UV-B型
产品简介
UV-B型单通道短波254nm灯紫外辐照计 产品概述 紫外辐照计已取得制造计量器具许可证和计量器具型式批准证书。 紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003-2014。 UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
产品详细信息
UV-B型单通道短波254nm灯紫外辐照计
产品概述
紫外辐照计已取得制造计量器具许可证和计量器具型式批准证书。
紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003-2014。
UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示,带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口(USB,冗余供电)
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作,蜂鸣提示
技术规格:
配置包括:读数显示单元、探头、探头盖、数据线、说明书、合格证/保修单、9V积层电池、仪器包装箱。
UV-B型单通道短波254nm灯紫外辐照计
产品概述
紫外辐照计已取得制造计量器具许可证和计量器具型式批准证书。
紫外辐照计执行企业标准Q/HDSDY0003-2014。
UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示,带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口(USB,冗余供电)
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作,蜂鸣提示
技术规格:
项目 |
参数 |
波长范围λ1,峰值波长λp |
(230~275)nm,λP=254nm(标配) |
波长范围λ2,峰值波长λp |
(275~330)nm,λP=297nm(选配) |
辐照度测量范围 |
(0.1~199.9×103) μW/cm2 |
紫外带外区杂光 |
UV254<0.1%,UV297<0.05% |
相对示值误差 |
±8%(相对于NIM标准) |
角度响应特性 |
±5% (α≤10°) |
线性误差 |
±1% |
换档误差 |
±1% |
短期不稳定性 |
±1%(开机30min后) |
疲劳特性 |
衰减量<2% |
零值误差 |
满量程的±1% |