宇时UM-1快速超声波测厚仪 UM-1
产品简介
宇时UM-1快速超声波测厚仪采用超声波测量原理,是一种超小型测量仪器。它能快速、无损伤、**地进行测量。 广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检业等检测领域,适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。除可对各种板材和各种加工零件作**测量外,还可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们使用过程中受腐蚀后的减薄程度,是材料保护必备的专用仪器。
产品详细信息
宇时UM-1快速超声波测厚仪
宇时UM-1快速超声波测厚仪的概况
采用超声波测量原理,是一种超小型测量仪器。它能快速、无损伤、**地进行测量(显示分辨率0.1mm)。
可广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检业等检测领域,适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。除可对各种板材和各种加工零件作**测量外,还可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,是材料保护必备的专用仪器。
宇时UM-1快速超声波测厚仪的测量原理
超声波测厚仪UM-1对厚度的测量是由探头将超声波脉冲透过耦合剂发射到被测体,超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数:
·工作原理:脉冲~回波方式。
·测量范围:0.8~300mm(取决于所用探头,材料,表面状况)。
·材料声速范围:1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/µs。
·单位和显示分辨率:0.1mm/0.01"。
·示值误差:±0.1mm(≤10mm);±0.5%H+0.01(≥10mm),H为被测物厚度。
·重复性:±0.1mm。
·探头零点校准:一点校准(用于常规的厚度测量);两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)。
·V路径修正:自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度。
·显示屏:128*64点阵液晶屏42*57mm, 具有EL背光;
·可调节对比度,厚度值数字高度可达13.75mm。
·测量刷新频率:常规测量时4Hz,*小值扫查时25Hz。
·数据存储:划分5个数组,可存储500个厚度值。
·工作语言:中文、英文。
·电源:两节1.5VAA电池,当电池电量不足时,有低电压提示。
·操作时间:两节5号电池,使用时间可达200小时。
·自动关机:5分钟无操作后自动关机。
·工作温度:-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃。
·尺寸:149*73*32mm(H*W*D)。
·重量:含电池200g。
可选配件:
·橡胶外套;
·可供选择的探头;
·校准用阶梯试块;
·耦合剂及高温耦合剂。
宇时UM-1快速超声波测厚仪标准配置:
·测厚仪主机1台,
·标配探头1只,
·碱性电池2节,
·耦合剂1瓶,
·操作手册1本,
·合格证1份。