31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪 31WII二米平面光栅摄谱仪
产品简介
二手31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪;二手上光31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪质量保证;二手闲置,存货不多,数量有限,售完即止。应用于金属合金(包括矿物石)的日常定性定量分析,纯金属和材料的什质鉴定(包括纯烯土元素分析)。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析,对烯有金属和其他多谱线元素进行分析
产品详细信息
31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
二手闲置,存货不多,数量有限,售完即止。
二手上光31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪质量保证
产品型号: 31WII 光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
生产厂商: 国产 上光
主要技术指标
狭缝宽度范围: 0~0.3 毫米
狭缝宽度分度值: 0.001 毫米
狭缝宽度再现性: 0.001 毫米
狭缝有效高度: 10 毫米
外行尺寸: 2400X1500X700 毫米立方
重量:约 150 公斤
仪器特点和应用范围
谱面平直在 240 毫米谱板内谱线清晰。
三块光栅可方便地互换使用(根据配备光栅选择合适的色散和灵敏波段)。
有高清晰灵敏度。
使用操作过程(对光、预燃、曝光,板移)自动控制。
该仪器主要应用于金属合金(包括矿物石)的日常定性定量分析,纯金属和材料的什质鉴定(包括纯烯土元素分析)。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析,对烯有金属和其他多谱线元素进行分析。
主要技术指标
狭缝宽度范围: 0~0.3 毫米
狭缝宽度分度值: 0.001 毫米
狭缝宽度再现性: 0.001 毫米
狭缝有效高度: 10 毫米
外行尺寸: 2400X1500X700 毫米立方
重量:约 150 公斤
仪器特点和应用范围
谱面平直在 240 毫米谱板内谱线清晰。
三块光栅可方便地互换使用(根据配备光栅选择合适的色散和灵敏波段)。
有高清晰灵敏度。
使用操作过程(对光、预燃、曝光,板移)自动控制。
该仪器主要应用于金属合金(包括矿物石)的日常定性定量分析,纯金属和材料的什质鉴定(包括纯烯土元素分析)。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析,对烯有金属和其他多谱线元素进行分析。
注:产品照片为实物拍摄,供参考;本公司保留对产品进行改进提高的权利,届时恕不另行通知客户;本产品配置以及实际运费以装箱清单及货运距离为准。包装箱为定制实木结构,故在**性上有保障,但相应重量及运费要高一些,请各位理解。
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