四探针薄膜电阻率测试仪

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产品型号:
 牌:ROOKO
公司名称:宁波瑞柯微智能科技有限公司
  地:浙江宁波
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产品简介

四探针薄膜电阻率测试仪,探针测试仪测量薄膜的电阻率,探针电阻测试仪本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。四探针薄膜电阻率测试仪

产品详细信息

四探针薄膜电阻率测试仪
FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪

按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,


四探针薄膜电阻率测试仪

本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.



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四探针薄膜电阻率测试仪

.型号及参数

规格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方块电阻范围

10-52×105Ω/□

10-42×105Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×104Ω/□

10-22×105Ω/□

10-22×104Ω/□

2.电阻率范围

10-62×106Ω-cm

10-52×106Ω-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×105Ω-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×105Ω-cm

测试电流范围

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA100mA

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA

100mA

0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

4.电流精度

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.电阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz 耗:<30W

9.误差

≤4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

11.测试探头

探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

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