四探针电阻率/方阻测试仪 FT-330

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产品型号:FT-330
 牌:瑞柯微
公司名称:宁波瑞柯微智能科技有限公司
  地:浙江宁波
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产品简介

四探针电阻率/方阻测试仪,测量表面电阻,四探针电阻率/方阻测试仪 本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,四探针电阻率/方阻测试仪

产品详细信息

四探针电阻率/方阻测试仪

FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪

四探针电阻率/方阻测试仪

一.描述:

采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.


四探针电阻率/方阻测试仪

.参照标准:

硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.


四探针电阻率/方阻测试仪

.适用范围:

适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品


四探针电阻率/方阻测试仪

.型号及参数

规格型

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方块电阻范围

10-52×105Ω/□

10-42×105Ω/□

10-32×105Ω/□

10-32×104Ω/□

10-22×105Ω/□

10-22×104Ω/□

2.电阻率范围

10-62×106Ω-cm

10-52×106Ω-cm

10-42×106Ω-cm

10-42×105Ω-cm

10-32×106Ω-cm

10-32×105Ω-cm

测试电流范围

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA100mA

0.1μA 1μA10μA100µA1mA10mA100mA

10μA100µA1mA10mA

100mA

0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA

1μA10μA100µA1mA10mA100mA

4.电流精度

±0.1%

±0.2%

±0.2%

±0.3%

±0.3%

±0.3%

5.电阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz 耗:<30W

9.误差

≤4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

11.测试探头

探针间距选购:1mm2mm3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针



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