四探针测试仪/便携式四探针测定仪 JZ-2

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产品价格： ¥9800.00

产品型号：JZ-2

品牌：九州牌

公司名称：北京九州晟欣科技有限公司

所在地：北京昌平

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产品简介

四探针测试仪/便携式四探针测定仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。
四探针测试仪/便携式四探针测定仪该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

产品详细信息

四探针测试仪/便携式四探针测定仪

二、四探针测试仪/便携式四探针测定仪概述

四探针测试仪/便携式四探针测定仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

四探针测试仪/便携式四探针测定仪仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。

主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

四探针测试仪/便携式四探针测定仪详见表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》点击进入

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

三、四探针测试仪/便携式四探针测定仪基本技术参数

1. 测量范围、分辨率

电阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω

电阻率： 0.010～ 2000Ω-cm，分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm

方块电阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□

2. 材料尺寸

手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定

直径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。

SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。