请登录 免费注册
分享
  • 微信
  • 新浪微博
  • 人人网
  • QQ空间
  • 开心网
  • 豆瓣
会员服务
进取版 标准版 尊贵版
| 设为首页 | 收藏 | 导航 | 帮助 |
移动端 |
官方微信扫一扫
微信扫一扫
收获行业前沿信息
产品 资讯
请输入产品名称
噪声分析仪 纺织检测仪器 Toc分析仪 PT-303红外测温仪 转矩测试仪 继电保护试验仪 定氮仪
首页 产品 专题 品牌 资料 展会 成功案例 网上展会
词多 效果好 就选易搜宝!
北京德华振峡科技有限公司
新增产品 | 公司简介
注册时间:2005-03-23
联系人:
电话:
Email:
首页 公司简介 产品目录 公司新闻 技术文章 资料下载 成功案例 人才招聘 荣誉证书 联系我们

产品目录

德国Walter Uhl公司
测量工作台
定心校准显微镜
显微维氏硬度计
工具测量显微镜
德国LT公司超精密
平面激光干涉仪
高精密气浮/静油压转台
单点金刚石车床
德国NTG公司离子束抛光机
金属陶瓷焊接加速管
德国XONOX公司
德国FRT公司三维轮廓纳米测量仪 粗糙度 平面度 翘曲度
原子力显微镜
白光干涉仪
纳米表面测量
膜厚测量仪
三维轮廓仪
德国Trioptics公司光学测量仪
TA电子自准直管
折射率测量仪
点胶机-北京德华
光学传函测量仪
测焦仪-北京德华
非球面测量仪
测角仪-北京德华
中心偏测量仪
球径仪-北京德华
海德堡激光直写光刻设备
金刚石砂轮+金刚石车刀
首页 >>> 技术文章 >

技术文章

半导体膜厚线宽引线高度测量仪

           半导体膜厚线宽引线高度测量仪YXY  OEC 上海
TTV  Pitch总厚度引脚高度Roughness粗糙度
Topography表面形貌   LineWidTh线宽
Trench划槽 profiLe侧高sTepheighT台阶高度
fiLmThickness膜厚  BoWWaRp 弯曲度
FRT经历十多年**,长期服务于工业制造领域高精密形貌测量系统可以进行手动操作也可以完成全自动测量多传感器多功能测量.

       半导体 前后道 解决方案 
 
电子制造业的发展趋向于更小型化,高集成度
尤其体现在半导体晶圆制造中
大型硅片上的电路结构工艺日益复杂,在制造流
程中需要更细化的质量加工控制
对于新的测量工具要不断提升标准,除了要求测
量高精度和可重复性,同时要多功能化,综合性测量
这些是适应半导体技术快速发展的决定性因素。

上一篇:自动聚焦粗糙度平面度3D测量
下一篇:PCB平面度翘曲度粗糙度测量仪
            
若网站内容侵犯到您的权益,请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除