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- 产品名称:梅特勒电子天平ML30
- 产品型号:ML30
- 产品展商:瑞士梅特勒
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- 发布时间:2018-07-05
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简单介绍
梅特勒电子天平ML303简介:NewClassic ML303电子天平量程为320克,可读性为0.001克,梅特勒 NewClassic ML303电子天平具有基础天平所需要的一切:明亮的显示屏符合人体工程学设计、直观的用户界面、多种内置应用程序、支持电池操作,以及**的称量性能和坚固耐用,始终确保**和坚固。 梅特勒-托利多全新推出的**称量、易于操作的NewClassic 电子梅特勒天平ML3
产品描述
梅特勒电子天平ML303的特点:
内置单模块传感器(MonoBloc)和按键触发的内置砝码校正:采用单模块传感器(MonoBloc),具有显著的抗冲击、抗过载性能,同时确保准确的称量结果。按键触发的内置砝码校正,确保始终获得**的称量结果。
电池操作: 每一款ML天平都支持AC交流电源或电池进行操作。内置电池槽可容纳8节AA电池,确保8小时的使用时间。
直接连接:内置RS232通讯接口,方便连接电脑、打印机等外围设备。同时可将称量结果直接传输至Excel等开放式应用程序。传输过程自动开始,无需其它辅助软件。
明亮的背亮显示屏:清晰的背亮液晶显示屏,轻松读取称量结果。
梅特勒电子天平ML303的特点:
1.背亮液晶显示屏
2.按键触发的内置砝码校正
3.塑料保护罩
4.下挂称量钩
5.单模块传感器(MonoBloc)
6.抗过载保护
7.内置日期时间功能
8.可自由设置应用程序的快捷键
9.菜单保护功能
梅特勒电子天平ML303提供:
1. 6个称量单位切换
2. 可在全量程范围内去皮
3. 环境适配器
4. 内置多种称量应用程序:计件称量、百分比称量、动态称量、检重称量、自由因子、统计功能、配方称量、总和计算
NewClassic ML 精密天平 (万分之一电子天平,可读性0.0001g) 电子天平型号 | *大称量范围 | 可读性 |
ML54 分析天平 | 52 g | 0.0001 g |
ML104 分析天平 | 120 g | 0.0001 g |
ML204 分析天平 | 220 g | 0.0001 g |
NewClassic ML 精密天平 (千分之一电子天平,可读性0.001g)
电子天平型号 | *大称量范围 | 可读性 | 校准 |
ML203 精密天平 | 220 g | 0.001 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML203E 精密天平 | 220 g | 0.001 g | 全自动外校 |
ML303 精密天平 | 320 g | 0.001 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML303E 精密天平 | 320 g | 0.001 g | 全自动外校 |
ML503 精密天平 | 520 g | 0.001 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
NewClassic ML 精密天平 (可读性0.01g)
电子天平型号 | *大称量范围 | 可读性 | 校准 |
ML802 精密天平 | 820 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML1602 精密天平 | 1620 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML3002 精密天平 | 3200 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML4002 精密天平 | 4200 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML3002E 精密天平 | 3200 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)外部校准 |
ML4002E 精密天平 | 4200 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)外部校准 |
ML802E 精密天平 | 820 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)外部校准 |
ML1502E 精密天平 | 1520 g | 0.01 g | 全自动校准技术(FACT)外部校准 |
NewClassic ML 精密天平 (可读性0.1g)
电子天平型号 | *大称量范围 | 可读性 | 校准 |
ML2001 精密天平 | 2200 g | 0.1 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML4001 精密天平 | 4200 g | 0.1 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML6001 精密天平 | 6200 g | 0.1 g | 全自动校准技术(FACT)或按键触发的内置砝码校正 |
ML6001E 精密天平 | 6200 g | 0.1 g | 全自动校准技术(FACT)外部校准 |
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