CMXDL+超声波测厚仪特点：
测量方式（*测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、*测量涂层厚度） 显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<*cmx>） 增益可调节：超低、低、中、高、** 增益值*高可到110dB 自动增益控制（AGC） 时间增益校正（TCG） 探头自动识别，自动调零和温度补偿 *大值、*小值显示 可存储64个用户参数设置 高速扫查（50次/秒） 高达140HZ的脉冲重复频率 B扫描显示用于显示被测材料的截面形状 A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+） 差值测量模式 高速扫查功能可用于快速找到壁厚的*小值 上/下限声光报警功能 数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数 可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
CMXDL+超声波测厚仪技术参数：
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多层测量(PECT)方式：0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量(E-E)模式：2.54 —102mm（因涂��的不同会有所变化）
*测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）