数字式四探针测试计SZB-SX1934 北京恒奥德仪器仪表有限公司

数字式四探针测试计/数字式四探针测试仪

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产品名称：数字式四探针测试计/数字式四探针测试仪
产品型号：SZB-SX1934
产品展商：恒奥德
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简单介绍

数字式四探针测试计/数字式四探针测试仪产品点四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M 标准*的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试用仪器。

产品描述

数字式四探针测试计/数字产品点数字式四探针测试计/数字式四探针测试仪
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法家标准并参考美A.S.T.M 标准*的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试用仪器。
仪器以大规模集成电路为核心件，采用旋扭式开关控制，及各种作状态LED示。应用微计算机术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、耗低、测量精度、测试速度快、稳定性好、易操作。

测量范围电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω
可测晶片直径（*） φ100mm(标配)，方形230×220mm(*)
*电阻测量误差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数±2个字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
仪器重量电气主机：约4kg 　　测试台：约5kg
测试环境温度：23±2℃ 相对湿度：≤65％；无频干扰无强光照射
电源 220V±10%(50Hz) 耗≤35W
备注具备电脑接口

式四探针测试仪

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