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MC-3000涂层测厚仪系统校准详解
MC-3000涂层测厚仪系统校准详解
仪器在出厂前已经经过技术人员系统校准，为保证*度也可在工作现场进行二次系统校准。
系统校准过程：

系统校准流程如图10所示，在校准菜单中选择“系统校准”选项，按“ENTER”键后，仪器进入系统校准模式。
本系统校准共需要校准五个标准样片，进入系统校准后*先显示"基体"界面，此时要把探头垂直的放到被测件的裸露基体上进行测量。测量两次后如果测量没有错误操作，伴随着两声蜂鸣便进入*个样片的测量。屏幕*先显示出厂时提供的*个样片值。如果显示的样片值和随机配置的样片值大小不符，可以通过上下键来进行加1或减1操作。按住上下键不动可以连续加或减，直到调整到显示值和真实值相同为止。调整完样片值之后即可对*个样片进行测量，测量两次无误后，伴随着两声蜂鸣，仪器进入下一个样片的校准。若测量两次后仍无两声蜂鸣，说明操作有误，重新测量一次即可。接下来四个样片的调整方法同上。
    当第五个样片校准完成后屏幕提示“校准已完成”，然后仪器进入测量界面。仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。
注意：这五个样片可以使用仪器提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行，相邻样片间需要有一定的差值。系统校准时所选用的基体必须是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。
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