Surfix PF一体式统计铁基膜厚仪，Pocker-Surfix PF单功能涂层测厚仪，内置探头，测量量程为0-1500µm，带有统计功能，能够自动计算*大、*小、平均值等。
德国菲尼克斯Surfix PF一体式统计铁基膜厚仪原装现货，珠海天创仪器*促销，本公司可代办计量校准服务，免费代办，只收取计量检测所费用。
Surfix PF一体式统计铁基膜厚仪外壳均带有一层耐摔套壳，这样能够*大避免使用时仪器掉落造成的仪器损坏，原装进口品质，详细产品请参考如下图片：
Surfix PF一体式统计铁基膜厚仪探头，带有V型槽设计，不管平面还是曲面都能够轻松测量，保证测试的稳定性。
Surfix PF一体式统计铁基膜厚仪技术参数
测量范围
0-1500µm,0 - 60mils
误差
±(1µm+1%读数）
分辨率
0.1µm或小于读数的2%
显示
背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
基体*小面积
5mmX5mm
基体*小曲率
凸面：1.5mm 凹面：5mm
基体*小厚度
F型：0.2mm ,N型： 50µm
校准
厂家校准，零校准，校准箔校准
数据统计(*限统计型)
读数个数(*多9999个)，平均值，标准偏差，*大值和*小值
数据存储(*限统计型)
*多200个测量数值,可单独调出
数据值(*限统计型)
上下限可调,声音报警
数据接口
红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度
0-50℃/60℃ （可选配150℃）
电源
两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸
137x66x23mm
符合标准
DIN，ISO，ASTM，BS