6000NAS1美国狄夫斯高氧化铝膜厚仪，PosiTector 6000NAS1镀层测厚仪，专门用于有色金属上的绝缘层厚度检测。美国狄夫斯高原装进口。
大家都知道，一般情况下，有色金属上面的镀层都比较薄，而国产的镀层测厚仪测试效果一般都不理想。而6000NAS1美国狄夫斯高氧化铝膜厚仪专门为铜、铝上面的绝缘层厚度测试而设计，专门用于氧化铝膜厚检测，耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水读数不受振动影响.*是您的*仪器。
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6000NAS1美国狄夫斯高氧化铝膜厚仪技术参数
型号 标准探头 90°标 准探头 测量铝基 氧化膜 微型探头 一般厚探头 超厚探头 一体 分体 0° 45° 90° 一体 分体 F型 基本型 F1 F2 F3 FS1 FS2 FS3 FRS1 FRS2 FRS3 F0S1 F0S2 F0S3 F45S1 F45S2 F45S3 F90S1 F90S2 F90S3 FT1 FT2 FT3 FTS1 FTS2 FTS3 FKS1 FKS2 FKS3 统计型 存储型 N型 基本型 N1 N2 N3 NS1 NS2 NS3 NRS1 NRS2 NRS3 NAS1 NAS2 NAS3 N0S1 N0S2 N0S3 N45S1 N45S2 N45S3 N90S1 N90S2 N90S3 NKS1 NKS2 NKS3 统计型 存储型 FN型 基本型 FN1 FN2 FN3 FNS1 FNS2 FNS3 FNRS1 FNRS2 FNRS3 FNTS1 FNTS2 FNTS3 统计型 存储型 量程 0～1500μm 0～625μm 0～6mm 0～13mm 精度 0～50μm时 ±（1μm +1%）; >50μm时 ±（2μm +1%） 0～100μm时 ±（0.5μm +1%）; >100μm时 ±（2μm +3%） 0～2.5mm时 ±（0.01mm +1%）; >2.5m时 ±（0.01mm +3%） ±（0.02mm +3%）
F1 F2 F3