38DL PLUS超声波测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的新型仪器；这款手持式测厚仪可*地适用于几乎**超声测厚应用而且与**双晶和单晶探头完全兼容功能齐全的38DL PLUS超声波测厚仪可用于各种应用包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其*的壁厚测量
38DL PLUS超声波测厚仪的标准配置带来很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些**于某些*应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求可以抵御极其超市或多沙尘的严酷的环境条件彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有*的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问**功能。38DL PLUS超声波测厚仪主要特征:■ 可与双晶和单晶探头兼容。■ 宽泛的厚度测量范围: 0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定■ 使用双晶探头进行腐蚀测厚。■ 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。■ 内部氧化皮/沉积物软件选项。■ 对于**探头，标准分辨率为0.01毫米。■ 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。■ 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。■ 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。■ 厚度、声速和渡越时间测量。■ 差分模式和缩减率模式。■ 时基B扫描模式; 每次扫查可获得10000个可查读数。■ 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。■ 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。■ 设计符合EN15317标准38DL PLUS超声波测厚仪技术规格：测量双晶探头测量模式 从激励脉冲后的*延时到*个回波之间的时间间隔。穿透涂层测量模式 利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。穿透漆层回波到回波测量模式 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。单晶探头测量模式 模式1： 激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 模式2： 延迟线回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 模式3： 在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔 氧化皮模式：可选。 多层模式：可选。厚度范围 0.080 mm～635.00 mm，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。材料声速范围 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs分辨率（可选择） 低分辨率：0.1 mm 标准分辨率：0.01 mm 高分辨率（可选项）：0.001 mm探头频率范围 标准：2.0 MHz～30 MHz（–3 dB） 高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（–3 dB）一般规格工作温度范围 –10 °C～50°C键区 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。机壳 防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。外型 尺寸（宽 x 高 x 厚） 总体尺寸：125 mm x 211 mm x 46 mm重量 0.814 Kg电源 AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。锂离子电池供电时间 工作时间：*少12.6小时，一般14小时，*多14.7小时。 快速充电：2小时到3小时。标准 设计符合EN15317标准。显示彩色透反VGA显示 液晶显示，显示屏尺寸：56.16 mm x 74.88 mm检波 全波、RF波、正半波、负半波输入/输出 USB 1.0从接口。RS-232 有。存储卡 *大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。视频输出 VGA输出标准。内置数据记录器数据记录器 38DL PLUS通过标准的RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、**、传输厚度读数、波 形图像和仪器配置信息。容量 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。文件名称、ID编码及注释 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。文件结构 9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。报告 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的*小值/*大值、*小值回顾、 文件比较及报警报告38DL PLUS超声波测厚仪配置清单：• 38DL PLUS数字式超声测厚仪，交流电源或电池供电，50 Hz～60 Hz• 标准双晶探头套装盒• 充电器/交流电适配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）• 内置数据记录器• GageView接口程序• 试块和耦合剂• USB线缆• 橡胶保护套，带有支架和颈挂带• 用户手册• 两年有限担保