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产品资料

3511-50测试仪

3511-50测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:3511-50测试仪
  • 产品型号:3511-50
  • 产品展商:日本日置
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简单介绍
3511-50测试仪 测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位**度自由调整 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触 模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来
产品描述
3511-50测试仪    测试仪

    测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位**度自由调整

    可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触

    模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来

    基本参数

     

     

    测量参数

    │Z│,θCLDQR

    测量方法

    测量源:恒压50mV500mV1Vrms(AC)
    检测:电压,AC

    测量频率

    120Hz1kHz

    测量量程

    │Z│R10mΩ200.00MΩ(视条件而定)
    θ: -90.00
    +90.00 ° C:0.940pF
    999.99mF
    L
    1.600μH200.00kHD0.0001
    1.9900
    Q
    0.85999.99

    基本精度

    │Z│: ± 0.08%rdg.θ: ± 0.05 °

    测量时间

    快速:5ms~慢速:300ms1kHz
    快速:30ms~慢速:400ms120Hz

    显示

    *大显示值99999, LED显示

    比较器功能

    设定:上、下限值,**值输出:3档(高,中,低),开路集电极,隔离

    外部打印

    9442(使用9443/9444

    电源供应

    交流100240V50/60Hz(可选择)

    体积及重量

    210× 100× 168mm2.5kg

    附件

    电源线(1),保险丝(1

     HHD-32K2C1E2F3T1P3D2J1  HHD-32K2C1E2F3T1P3D2J2  HHD-32K2C1E2F3T1P4D1J1  HHD-32K2C1E2F3T1P4D1J2  HHD-32K2C1E2F3T1P4D2J1  HHD-32K2C1E2F3T1P4D2J2  HHD-32K2C1E2F3T2P1D1J1  HHD-32K2C1E2F3T2P1D1J2  HHD-32K2C1E2F3T2P1D2J1  HHD-32K2C1E2F3T2P1D2J2  HHD-32K2C1E2F3T2P2D1J1  HHD-32K2C1E2F3T2P2D1J2  HHD-32K2C1E2F3T2P2D2J1  HHD-32K2C1E2F3T2P2D2J2  HHD-32K2C1E2F3T2P3D1J1  HHD-32K2C1E2F3T2P3D1J2

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