X射线镀层测厚仪XULM 240货号604-770 硬件：用于镀层厚度测量和材料分析的X-射线荧光测量系统。 配备微聚焦射线管，手动X-Y轴工作台， 4个电机驱动的视准器组， 尺寸分别为： 圆形直径0.1/0.2方形0.05×0.05mm 和槽型0.03×0.2mm。 配备3种可切换的滤波器， 以达到*佳的测量灵敏度。 X-射线由下往上。 高清晰度彩色摄像头。 计算机系统： 英特尔处理器，预装Win10 以及WinFTM测量软件 19英寸彩色液晶显示器 12纯元素片： (Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr) 仪器安装：维修工程师现场安装调试与培训。