Agilent4287A射频测试仪Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz～3GHz频率范围可以提供**，可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同,，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行**测量。生产率高，质量可靠4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著,提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。系统组建简单测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能，高速GPIB处理器,接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。便于使用

● 通用LCR测试仪3511-50高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz)● 高精度： ± 0.08%● 通用LCR测试仪3511-50内置比较器主机不标配输入用探头/测试夹具。请按照测量用途选择选件中的探头和测试夹具。

5ms的高速测量，搭配宽幅测试频率的阻抗分析仪

台湾固纬（GWinstek）LCR-829高精密LCR测试仪准确度0.1%

LCR-827 台湾固纬 GWinstek LCR-827高精密LCR测试仪台湾固纬 GWinstek LCR-827高精密LCR测试仪特性：测试频率：12Hz ~ 100kHz, 503 点0.05% 高量测,准确度 （LCR-817/819）0.1% 高量测准确度 （LCR-816/826/827/829）100 组设定条件记忆储存、呼出功能R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式***、差异值,（△ ）、差异百分比（△%）显示240 x 128 大型 LCD 显示幕选别机介面 （LCR-826/827/829）测试条件及测试结果同时显示在萤幕上

日本HIOKI日置LCR测试仪 3511-50优势供应日本HIOKI日置LCR测试仪 3511-50优势供应

LCR测试仪 HIOKI 3535