X-RAY XUL 菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。菲希尔X射线测厚仪又名菲,希尔膜厚仪|X射线膜厚仪|荧光膜厚仪，X-RAY XUL系列分为固定平台的XUL和手动平台XUL-xym

X-RAY XULM X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。

镀层测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。,牛津CMI243便携金属镀层测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使CMI243

X荧光能谱仪 X荧光能谱仪Rohs检测仪 镀层测厚仪膜测厚仪美国赛黙飞世尔ThermoFisher（美国热电）能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）

英国牛津仪器Oxford CMI243测厚仪膜厚仪属于金属镀层厚度测量仪，它的测试精度结果足以媲美X射线荧光测厚仪。英国牛津仪器Oxford CMI243测厚仪膜厚仪该仪器设计小巧、便于携带、可随,时随地实行全方位***的在线检测工件镀层厚度是否合格。检测领域在紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层。

Compact 5/5PIN X射线荧光分析测厚仪 可测量厚度范围：22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

CMI243 便携式金属镀层测厚仪采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式镀层测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称

镀层测厚仪成为紧固件行业应��的理想工具。采用基于相位电涡流技术，日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。,日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款

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Compact eco X射线荧光分析测厚仪 可测量厚度范围：22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm

CMI900 X荧光镀层测厚仪CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 高性能X射线荧光光谱仪快速**的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线

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