![](/content/images/supplies/inquerys.png)
![型激光尘埃粒子计数器 Y09-6LCD](http://y2.yzimgs.com/uploads/155992/2008111805223654.jpg)
Y09系列激光尘埃粒子计数器用于测量洁净环净中单位体积空气内的尘埃粒子大小和数目,可直接检测洁净等级为Class300,000级至Class10级的洁净环境。本仪器采用了半导体激光光源,体积小,重量
![美国APRESYS 600激光测距仪 600](http://y1.yzimgs.com/uploads/145629/2008011903212588.jpg)
美国APRESYS 600激光测距仪测距范围:15—600m,PRO 600激光测距仪测距方式:半导体激光测距(对人眼无害),PRO600激光测距望远镜测距误差:±1m±0.1%
![BT-9300HT激光粒度分析仪 BT-9300HT](http://y1.yzimgs.com/uploads/340516/2010040113181126.jpg)
BT-9300HT激光粒度分析仪是一种性能优良的粒度分布仪,它采用进口的半导体激光器,功率大、寿命长、单色性好;采用专门设计的由大规模集成电路工艺制造的大尺寸高灵敏度光电探测器阵列;采用蠕动循环泵和
![光功率计 OPM572](http://y1.yzimgs.com/uploads/337938/2010012310510874.jpg)
光功率计OPM572带护套,He-Ne,氩激光,半导体激光,带IR光束目视确认探头不用电源和电池 可监视光波形 直读波长(485-515/610-640/650-690/760-830nm)
![OPM-572激光功率计 OPM-572](http://y3.yzimgs.com/uploads/333925/2009122501142112.jpg)
OPM-572激光功率计带护套,He-Ne,氩激光,半导体激光,带IR光束目视确认探头不用电源和电池可监视光波形直读波长(485-515/610-640/650-690/760-830nm)四量程 光功率测量量程:0.1/1/3/10/30mW 五量程
![KT-半导体激光打标机 KT](http://y1.yzimgs.com/uploads/325820/2011070915145711.jpg)
KT-半导体激光打标机主要功能与优点:完善合理的整机设计,控制系统和打标软件**的结合使产品部件寿命大大增强,长时间运行故障率低,产品性能稳定可靠。
![CLJ-E尘埃粒子计数器 CLJ-E](http://y1.yzimgs.com/uploads/322394/2010042714273212.jpg)
CLJ-E尘埃粒子计数器 CLJ-E型(全半导体激光)尘埃粒子计数器(LED显示) 显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m3所含颗粒数。
![供应Y09-310型激光尘埃粒子计数器 Y09-310型](http://y1.yzimgs.com/uploads/313826/2010062610465615.jpg)
采用了半导体激光光源,液晶屏大屏幕显示,检测精度高、功能操作简单明了,微处理器控制,可贮存、打印测量数据,测试洁净环境十分便利。另外,可通过专用通讯软件将尘埃粒子计数器采集的数据上传至电脑中,并可在o,Y09-310型激光尘埃粒子计数器 Y09-310型激光尘埃粒子计数器:(大流量) 用于测量洁净环境中单位体积空气内的尘埃粒子大小及数目,可直接检测洁净度等级为三十万级至百级的洁净环境。本仪器
![北京光功率计OPM570L OPM570L](http://y2.yzimgs.com/uploads/490686/2015120211045040.jpg)
北京光功率计OPM570L带护套,半导体激光专用;650-680可视半导体激光;760-830红外半导体激光
![FJ系列扩散硅压力传感器 FJ系列扩散硅压力传感器](http://y3.yzimgs.com/uploads/484042/2015112012011145.jpg)
技术,在单晶硅片的特定晶向上,用光刻、扩散等半导体工艺制作一惠斯登电桥,形成敏感膜片,当受到外力作用时产生微应变,电阻率发生变化,使桥臂电阻发生变化(一对变大一对变小)再激励电压信号输出,FJ系列扩散硅, FJ系列扩散硅压力传感器系全部采用进口芯片,经过精心的结构设计,信号处理和组装,并按照国家标准和企业标准,进行测试而生产出来的新一代压力传感器。基本原理是利用半导体的压阻效应和微机械加工,压力传感器经过计算机温度补偿、激光调阻、信号放大等处理手段和严格的装配检测、标定等工艺,生产出具有标准输出信号的压力变送器。