MD-HF 高频压力传感器系列的传感器利用了半导体硅极高的杨氏弹性模量和优良的力学特性制成，使传感器具有很高的固有频率，结合本公司先进的内部、外部结构设计，减小了频率损耗，从而获得很高的响应频率和上升时间，是专门为测量高频动态压力而设计的产品。

宽带隙小型深紫外PL-Mapping（光致发光）光谱仪光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光

切口指套材质：采用100%浓缩天然乳胶特性：无增塑剂、不含硅油和氨化物，颜色为乳白色适用范围：半导体、微电子、电子装配、钟表及生物制药等可提供规格：S.M.L包装：500克/包、20包/箱（可按客户要求包装）

椭圆偏正光谱仪技术是近年来随着现代科技的发展而迅速发展起来的光学无损检测方法，它已越来越广泛的用于介电、半导体、金属、有机物等各种材料的光学特性、结构特征、生长过程和材料质量的快速测试与研究

YB4805数字存储半导体管特性图示仪是一款测量速度快，功耗小，**性好，可靠性高的半导体特性图示仪。

XJ4810型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件,配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。

紫外-近红外椭圆偏振光谱仪,用于介电、半导体、金属、有机物等各种材料的光学特性、结构特征、生长过程和材料质量的快速测试与研究.(见www.yingguangyq.com)预知主要参数,请点击图片处.

YB4805 数字存储半导体管特性图示仪集电极电流范围10μA/div~0.2A/div(可扩展×10)，集电极电压范围0.05V/div~50V/div,分10档，误差不超过±5%，我公司为上海地区**销售商。

测试开关智能控制，各种控制开关测试条件可预置、测试结果可存盘、可打印输出，并可适用PC机显示被测器件特性曲线。

XJ4830型智能半导体管特性图示仪是我公司专业代理产品，从事批发与零售，价格公道，质量保证。XJ4830型智能半导体管特性图示仪提供光标测量方式，用CRT读出，显示测试档级、测试值、β、gm及集电极峰值电压输出百分比。