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![灯座自由空间量规 E12](http://y3.yzimgs.com/uploads/195141/2010122911232206.jpg)
E12灯座自由空间量规E12灯座自由空间规 (7006-32A-1) 检测目的与方法目的:用来检验E12灯座的接触性能使用方法:a) 当量规完全旋入灯座中时,测试电路中所示的指示灯应发亮。B, ) 在此位置上,量规与灯座上沿间应留有间隙,否则,如果灯座是用陶瓷或其他材料制造的,将划伤灯泡。使用厚度为0.08mm,宽度为5mm的塞尺检验间隙。
![日本得乐TECLOCK SM-112测厚规](http://y1.yzimgs.com/uploads/193129/200781611135234.jpg)
SM-112测厚规 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。测量范围:0-10mm*小读数:0.01mm测量深度:26mm
![行货**日本得乐TECLOCK厚度计SM-112厚度规|纸张测厚仪 薄膜测厚仪 SM-112](http://y1.yzimgs.com/uploads/177114/2011082310144580.jpg)
行货**日本得乐TECLOCK厚度计SM-112厚度规|纸张测厚仪 薄膜测厚仪量测橡胶、塑胶、织物、纸...等样本之厚度。指示方式指针式测定范围0.01~10mm侯深26mm体积87×23×105mm重量150g
![SM-130LW测厚规 SM-130LW](http://y3.yzimgs.com/default.jpg)
SM-130LW测厚规型号目量测定范围测定力(N.gf)短针测定子形状(上)测定子形状(下)SM-130LWSφ3.2(1/8)Sφ3.2(1/8)
![日本孔雀短足式缸径规 CC-1S、CC-2S、CC-3S、CC-3CS](http://y2.yzimgs.com/uploads/173852/2008120411051291.jpg)
日本孔雀短足式缸径规CC-1S、CC-2S、CC-3S、CC-3CS.日本孔雀其它相关的产品有杠杆式量表,厚度计,深度计,电子式量表,量表测试台,外测卡规,内测卡规,千分表,百分表,快速外径测量仪
![立式光学计 LG-1](http://y1.yzimgs.com/uploads/2132/2006217224935656.jpg)
立式光学计是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块,**精度柱型规及各种圆柱形,球形,线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量,对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。
![PEACOCK厚度计 GL](http://y2.yzimgs.com/uploads/356393/2010100912175492.jpg)
PEACOCK厚度计GL型表盘厚薄表|日本孔雀PEACOCK指针式厚度计亚泰工具专业代理日本孔雀PEACOCK指针式百分表,表盘式千分表,比测型量表,替换测头,量表测试台,杠杆式量表,量表配件,指针,厚度计,电子厚度计,深度计,缸径规,外卡规,内测卡规及缸径规。日本孔雀(PEACOCK)针盘式厚度计:G G-2 G-4 H H-2 G-0.4N G-2.4N H-0.4N H-2.4N G-2
![测厚规 G-0.4N、G-2.4N、G-20、G-30](http://y2.yzimgs.com/uploads/351955/2010111016181393.jpg)
测厚规(厚度计),型号:G-0.4N、G-2.4N、G-20、G-30。品牌:日本孔雀PEACOCK.测厚规G-0.4N测量范围:0-10mm,*小刻度:0.01mm,测量喉深:20mm,测压力:初压0.4N
![外径千分尺 0-25](http://y2.yzimgs.com/uploads/351081/2010102721074172.jpg)
国产外径千分尺,进口千分尺,数显千分尺,刻度千分尺,国产卡尺,进口卡尺,数显卡尺,游标卡尺,带表卡尺,测厚规,高度计,深度计等量具力川代理
![日本塞尺 SSK](http://y1.yzimgs.com/uploads/348812/2010052812065983.jpg)
塞尺又称测微片或厚薄规,是用于检验间隙的测量器具之一, 横截面为直角三角形,在斜边上有刻度,利用锐角正玄直接将短边的长度表示在斜边上,这样就可以直接读出缝的大小了。日本塞尺精度高,质量可靠。
![测厚规 SM112](http://y3.yzimgs.com/uploads/346287/2010072816373491.jpg)
产品用途: 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。 原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。