MP-A2L韩国Kyungdo(京都)磁粉探伤仪 MP-A2L
MP-A2L韩国Kyungdo(京都)磁粉探伤

MP-A2L韩国Kyungdo(京都)磁粉探伤仪的矩是84-176nm,并配有照明灯,因此有利于黑暗处适用。MP-A2L韩国Kyungdo(京都)磁粉探伤仪可以把极旋转成90℃使用,使用时可以调节极的极距。

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时代TCJE-1磁轭式磁粉探伤仪
时代TCJE-1轭式磁粉探伤

时代TCJE-1轭式磁粉探伤

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磁粉探伤仪CJE-2 CJE-2
磁粉探伤仪CJE-2

磁粉探伤仪CJE-2是一款交直流两用的磁粉探伤仪,标准配置的A型头适合角焊缝,也可以选购D型头,E型旋转头,O型环形头。 磁粉探伤仪CJE-2

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多用磁粉探伤仪型号:ZH/CYE-A ZH/CYE-A
多用磁粉探伤仪型号:ZH/CYE-A

多用磁粉探伤仪型号:ZH/CYE-A仪器利用可挂硅组成无触点电子电路,噪音小,寿命大,体积小,重量轻、提升力大,活动关节可调,为适应探伤的需要,该仪器性能配两种头使用,特别适用平面煌 、角焊缝、钢管、压力容器、管遵、轴及形状复杂的零件的探伤

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DA400S 磁粉探伤仪 DA400S
DA400S 磁粉探伤

DA400S 磁粉探伤仪:全新观念轭式探伤仪美国波音公司航空维修手册指定产品;采用了许多先进技术来形成感应场,具有极高通用性;控制器与固态电子器件为一体的高性能轻便仪器;固定的AC或DC,场,用于表面和近表面缺陷的检测;可将高能场集中施加到检测区,快速准确发现材料缺陷;极可将AC或DC场施加到各种形状工件的检测区域,没有电弧烧

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C型磁粉探伤试片 C型 磁粉探伤灵敏度试片
C型磁粉探伤试片 C型 磁粉探伤灵敏度试片

C型 磁粉探伤灵敏度试片 C型磁粉探伤试片*先由日本无损检测学会提出,以后为多个国家使用,主要用于零部件的磁粉探伤,在检查中,对几何形状复杂,不同材质的工作,可以正确地选择化规范,并可检查探伤设备,悬液的性能,,在磁粉探伤操作过程中,可以避免漏检,正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向,并对显示缺陷的场强度有所估量A型灵敏度试片是磁粉探伤工作者必备的调试工具。

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S3035-9K大面积照射LED黑光灯 S3035-9K
S3035-9K大面积照射LED黑光灯 S3035-9K

S3035-9K大面积照射LED黑光灯采用悬挂式设计,9000uW/cm2紫外线照射强度,满足一些大面积检测的场合。广泛用于无损检测行业的荧光渗透探伤和荧光探伤。S3035-9K大面积照射LED黑光灯珠海天创仪器一年质量保修,终身维护.

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磁粉探伤仪 wi32170
磁粉探伤

产品名称:磁粉探伤仪产品货号:wi32170 产品资料:www.5117dxy.com配A、D、O三种头www.5117dxy.com

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TCEW-1000A交直流磁粉探伤机 TCEW-1000A交直流磁粉探伤机
TCEW-1000A交直流磁粉探伤机 TCEW-1000A交直流磁粉探伤

TCEW-1000A交直流磁粉探伤机 TCEW-1000A交直流磁粉探伤磁粉探伤机是根据化原理设计的,用于检查铁性材料制成的零件,可以发现零件表面或近表面因锻压,淬火,研磨,疲劳裂纹,非金属杂质等极细微的缺陷及裂纹;如螺栓及圆棒等。本机化时采用定时控制,操作方便效率高,只要踏下脚踏开关,即能完成零件夹紧,化。

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CDX系列便携式磁粉探伤仪(多功能型) CDX-I/CDX-II/CDX–Ш/CDX–IV/CDX–V
CDX系列便携式磁粉探伤仪(多功能型)

CDX系列便携式磁粉探伤仪(多功能型) 可检出铁性材料中裂纹、发纹、白点、折叠、夹杂物等缺陷,具有很高的检测灵敏度,能直观的显示出缺陷的位置、形状、大小和严重程度,重复性好。CDX,系列便携式磁粉探伤仪(多功能型) 在管材、棒材、型材、焊接件、机加工件、锻件探伤中得到了广泛的应用,尤其是在压力容器的定检中更是发挥着独特的作用。

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探伤仪 CJW-2000I型荧光磁粉探伤机
探伤仪 CJW-2000I型荧光探伤

CJW-2000I型荧光探伤机 该系列探伤机,参照西德DIN标准,符合JB/T8290-1998《探伤机》标准。采用微机控制,对被检工件的夹紧、喷洒、化、松开等机械动作进行程序控制,能按规定程序完成除上、下料,观察以外,的全部探伤过程。无论是单件小批量检测,还是大批量连续检测,使用本系列探伤机都是有操作简单、工作效率高,省时省力等优点。该系列探伤机广泛应用于曲轴、凸轮轴、连杆、气门、螺栓、转向节、拔叉、油管接箍。轴承

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JCZ系列磁强计 JCZ-5 JCZ-10 JCZ-20 JCZ-30 JCZ-50
JCZ系列强计

JCZ系列强计用于铁性材料和零部件在加工使用过程中,直接测量被化的量,JCZ系列强计也用于经过磁粉探伤后,退处理的测量工件剩余场的指示。

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LKCD-I磁粉探伤仪 LKCDI
LKCD-I磁粉探伤

LKCD-I磁粉探伤仪特点:LKCD-I磁粉探伤仪,采用多种化方式,高集成化电路使一台设备兼备原几种设备的全部功能。

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交直流磁粉探伤仪 CEX-500
交直流磁粉探伤

交直流磁粉探伤仪CEX-500:将钢铁等性材料制作的工件予以化,利用其缺陷部位能吸附的特征,依分布显示被测物件表面缺陷和近表面缺陷的探伤方法。 通过在缺陷附近漏场中的堆积以检测铁性材料表面或近表面处缺陷的一种无损检测方法。

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