手持式涂层测厚仪/涂层测厚仪  GT820F/NF/2
手持式涂层测厚仪/涂层测厚仪 GT820F/NF/2

手持式涂层测厚仪/涂层测厚仪仪器采用了磁性和涡流测厚方法,可自动识别是磁性基体还是非磁性基体,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶,、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器具有测量误差小

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CT220涂层测厚仪 CT220
CT220涂层测厚仪 CT220

CT220涂层测厚仪采用了磁性测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、油漆、锡、铝、铬、铜、珐琅、橡胶等)。

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时代TT220 涂层测厚仪 TT220
时代TT220 涂层测厚仪 TT220

时代TT220 涂层测厚仪TT220涂层测厚仪采用了磁性测厚法,是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。TT220涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT220涂层测厚仪体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

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分体式金属油墨测厚仪,干膜测厚仪 CM-8822
分体式金属油墨测厚仪,干膜测厚仪

分体式金属油墨测厚仪,干膜测厚仪产品型号: CM-8822 功能: 测量导物体上的非导涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) *小

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DUALSCOPE两用测厚仪 MP20E-S,MP40E-S
DUALSCOPE两用测厚仪 MP20E-S,MP40E-S

赫安提供的此款测厚仪性能**,能满足您不同工作环境的 多种需求。DUALSCOPE两用测厚仪 是一种便携式涂镀层测厚仪,使用电感应和涡流两种测试方法。可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬,磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。

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TT210 涂层测厚仪  TT210
TT210 涂层测厚仪 TT210

本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。

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铁基涂层测厚仪CM-8821 膜厚计 测厚仪 镀层测试仪 涂层测厚仪 CM-8821/CM8821
铁基涂层测厚仪CM-8821 膜厚计 测厚仪 镀层测试仪 涂层测厚仪 CM-8821/CM8821

产品特点:◆功能: 测量铁磁性金属基体上的非导涂层的厚度◆公制/英制:可选择◆电池电压指示:低电压提示◆自动关机

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CM-8821涂层测厚仪(国产) CM-8821
CM-8821涂层测厚仪(国产) CM-8821

CM-8821涂层测厚仪(国产)功能: 测量铁磁性金属基体上的非导涂层的厚度测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程)*小曲面:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm分辨率: 0.1 um (小于100um) 1 um (大于100um)

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F NF涂层测厚仪 ZL
F NF涂层测厚仪 ZL

F NF涂层测厚仪本仪器采用了磁性和涡流测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡,等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器具有测量误差小、可靠高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业等

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北京金泰科仪高精度涂层测厚仪KY8001  KY8002 KY8001 KY8002
北京金泰科仪高精度涂层测厚仪KY8001 KY8002 KY8001 KY8002

北京金泰科仪高精度涂层测厚仪KY8001 KY8002概述本仪器采用磁性、涡流两种测厚方法,可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶,、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)本仪器广泛地应用于一切金属表面涂层。北京金泰科仪高精度涂层测厚仪KY8001 KY8002

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HEWK-01 接近开关 HEWK-01
HEWK-01 接近开关 HEWK-01

HEWK-01接近开关由于其具有良好的环境适应,只要非接触就能测量各种磁性金属材料如:叶轮、带孔(或槽,螺钉),圆盘(或轴)的转速及线速度,另外它还可以用于计数和定位。该接近开关具有体积小,寿命长,测速范围大,感应距离等特点,与一般二次仪表均可配用

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