低温冲击试验装置AC-LTI-1符合GB2099.1-2008第24.4条及30.4条要求（图27及图42）、IEC60884-1、VDE0620等标准要求；低温冲击试验装置AC-LTI-1单组式适用于对插头、插座、开关、等进行低温冲击试验。

epec 控制器是CANopen兼容的ECU/PLC ，epec 控制器在控制系统中扮演多项角色，能够在高温、低温、潮湿、振动这种极为恶劣的环境中正常使用，epec 控制器可承受100G冲击和

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高低温试验室 适用于电子电工、家用电器、汽车、仪器仪表、电子化工、零部件、高低温冲击试验箱 原材料及涂层、镀层进行高低温、湿度环境下

一、济南试验机，金属冲击试样低温槽冷却设备 主要特点：DWC-60型冲击试验低温槽是我公司根据GB229—2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而*新研制开发的压缩机制冷设备。本设备,采用复叠式压缩机制冷技术，利用热平衡原理及循环搅拌方式，达到对试样的自动均匀冷却、恒温，可完全满足国家标准GB229—07所规定的各项控温指标。本设备操作简单方便，工作效率高，是金属低温冲击试验中理想的试样冷却、保温设备。同时亦可用于其它低温检测和试验工作。

低温冲击试验装置产品概述：符合GB2099.1-2008第24.4条及30.4条要求（图27及图42）、也符合GB2951.4、IEC60884-1、VDE0620等标准要求；单组式适用于对插头、插座、开关、电线及电工导管等进行低温冲击试验，三组式适用于电线进行低温冲击试验。

主要用途：DWY-60A型冲击试验低温仪是本公司根据GB229-2002《金属夏比缺口冲击试验方法》中对低温装置的要求而新研制开发的压缩机制冷设备，完全满足标准GB-229-2002所规定的各项控温,指标。本设备操作简单方便，工作效率高是材料低温冲击试验中的理想的试样冷却、保温设备。同时亦可用于其他低温检测和试验工作。

裁剪设备、多功能摆锤冲击系统、落锤冲击测试仪、热变形和维卡软化点测试仪、热老化测试仪、低温脆性测试仪等等。总之，Ray-Ran有能力使潜在的用户认为其产品物有所值。

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应用于半导体器件、电子产品和其他**设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。 立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种**保护措施及装置。满足MIL-STD-810D方法032、GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。

冷热循环试验箱采用蓄冷方式，为待测产品静置冷、热交替冲击方式.冷热循环试验箱广泛使用与电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。

清远三箱温度冲击箱简介：本试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。

产品名称:LP/2XCJ-225高低温冲击试验箱产品厂商:上海林频仪器股份有限公司http://www.linpin.com.cn/工作室尺寸 60*60*60外型尺寸171*102*184.5 样品区尺寸 40*40*45上海二厢式温度冲击试验箱/三厢式冲击试验箱