USM25DAC超声波探伤仪 KK---USM25DAC
USM25DAC超声波探伤

德国KK---USM25DAC超声波探伤 器特点:* 体积小、重量轻* 迅速、超反射的LCD显示,具有大视角。在各种外界 灯光环境中具有*佳的显示对比度* 操作可通过两个旋转的控制旋钮控制,更方便* 数据存储和RS232接口* 具有**化的记录功能,且附加的4条DAC曲线显示

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XGP 光泽度仪 XGP
XGP 光泽度

产品介绍:镜向60° ★ 用途:用于油漆、油墨、塑料、大理石等表面光泽度测量。 ★ 试验技术特征:光源经透镜使成平行或稍微会聚的光束向试板漆膜表面,反射光经接受透镜会聚,经现场光栏被光电池吸收

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OTDR 光时域反射仪 E6000C
OTDR 光时域反射

Agilent E6000C Mini OTDR (光时域发)E6000CMiniOTDR是安捷伦公司推出迷你型光时域反射,它集中了OTDR的所有优点于一体,并且独到地拓展了OTDR的概念,,将光源、光功率计、可视光源的功能也集成在该表中,使得您一旦拥有E6000C,便无需携带其它的光表,轻轻松松地完成光的测试工作。

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7000A电脑测色配色仪
7000A电脑测色配色

型号:Color-Eye 7000A 品牌:GretagMacbeth 产地:美国 优势:双光速、D/8°积分球设计;可量度反射 / 透率;符合*高颜色的测试要求。 …

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激光引伸计 LE-05
激光引伸计 LE-05

该系列引伸计采用非接触式测量材料应变,测量精度高。使用高速激光扫描测度试样上反射带之间的空间。LE-01型引伸计的测量范围为0.3到3.2英寸,即8到81毫米;LE-05型引伸计的测量范围为0.3

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24道折射或反射地震仪、24道的3维分布的地震仪 RAS 24
24道折反射地震、24道的3维分布的地震

RAS-24是一个模块式的24通道,高分辨率的地震,主要用于浅层折反射的地震测量。系统把*新的24位模块式转换技术同灵活的增容技术相结合,这样就等于使用具有分布式系统优点的常规系统。不管,你是在寻求用于小型折的12道地震,或是用于三维地震的240道地震,RAS-24地震都具有大多数工作要求的数据质量和特性。

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超声波流量流速积算液位监测仪 MH-GM
超声波流量流速积算液位监测

流量积算是一种高精度的利用超声波测量文丘里渠或巴歇尔槽的流量表,它测量声波在接触到渠道水面后反射回来的时间,然后根据公式计算出渠道的流量,它能提供流量输出,显示瞬时流量/总流量/液位高度.

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反射率辐射表 HTSW
反射率辐

区别开来,故通常所说的反射率是指短波反射率,测量短波反射率的器称为反射率表。反射率表可用于农业、林业、建筑、航海、航天、生物、医学等领域 。    ,物体对入反射部分称为反射反射与总辐之比用反射率表示,自然物体的反射率可分为短波反射率和长波反射率。由于长波反射率的***很小,且目前尚无法将一物体对长波辐反射同其自身的热辐

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光时域反射仪 AQ7270
光时域反射

AQ7270 OTDR 通过*新开发程序,实现了高性价比的*新技术。具备世界*高水平 的性能...

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PV-600A投影仪 PV-600A
PV-600A投影

產品仕樣 投影像 倒立像 倍率精度 透過 使用倍率的±0.1%以下 回轉螢幕 有效直徑 ψ600 mm 反射 使用倍率的±0.15%以下 玻璃 微粒子毛玻璃 測定物*大高度 參考下表 回轉角, ±360° 照明(透過) 24V 150W鹵素燈泡No.515305 角度表示 游標式刻劃 照明(反射) 24V 150W鹵素燈泡No.515305 讀取 1' 聚焦 載物台驅動、電動 機構 微動、固定 X

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红外热成像仪 BC700E
红外热成像

功能和技术特征非制冷焦平面及实时图像处理技术采用*先进的320×240/384×288非制冷整体热敏电阻焦平面探测器,维护方便;工作在8~14um波段,避免阳光反射干扰;配合高速DSP实时图像

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镀膜测厚仪 薄膜测厚仪 纳米厚度测量仪 镀层测厚仪 纳米测量仪 光学纳米测试仪 ST2000
镀膜测厚 薄膜测厚 纳米厚度测量 镀层测厚 纳米测量 光学纳米测试

产品的质量。 测量薄膜厚度有许多种方法。其中*常见的是基于机械技术的触针方法,显微镜技术和光学技术。 韩国科美公司的薄膜厚度测量系统,采用的是光学技术方法。因而由薄膜表面的反射光和基板表面反射光,厚度测量适用于研发和半导体,FPD,纳米技术,电子材料及特殊薄膜生产线中的薄膜测量.例如在半导体行业,需根据图样**地获取晶圆表面的各个薄膜沉积。薄膜测量系统是用来监控工序并通过测量薄膜的厚度决定

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超声波测距仪 SJUM-LS
超声波测距

SJUM-LS电子尺是我公司研制开发的超声波测距电子产品,它可以单机使用,准确测量出电子尺到反射面的垂直距离,也可以双机联用,无需反射面,测量任意两点之间距离. 它具有多种计算模式,可用于测量计算人体身高,两次测距之和,房屋面积。体积。操作简便。

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多功能近红外分析仪 MultiCheck
多功能近红外分析

MultiCheck既可以分析测量整粒谷物,又可以分析测量加工后的产品,采用了两种不同方式的测量通道:样品透和样品漫反射,联合功能在今后世界上谷物和农产品加工的分析中将会十分常用

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