WKL-702 颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒图像分析仪，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系,统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑，通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。

基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛，传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪（二次元）等，都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。本产品为,新一代影像尺寸测量系统，通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、智能化UI软件设计等技术，实现了对物体二维尺寸的快速成像测量，有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾，大幅度提高了检测效率和测量精度，消除了人为误差，人员操作简便，实现了精密测量的自动化和智能化。

平行光管平行光管是装校、调整光学仪器的重要工具之一，也是光学量度仪器中的重要成员。配用不同的分划板，连同测微目镜头或显微镜系统，可以测定透镜或透镜组的焦距、鉴别率及其它成像质量。（为了保证检查或测量,精度，被检透镜或透镜组的焦距，*好不大于平行光管的焦距的二分之一。）还可将平面���光镜放置在直线运动的工件上，通过平行光管上的高斯目镜观察，以检验工件的直线性。

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一步提高了测量可重复性和图像画质。电子显微镜线圈能够选择从对象材料反射出的二次电子和背向散射电子，实现BEOL制程*1的Via-in-trench*2和3D-NAND、DRAM工程中的深沟槽?洞底的尺寸,成都西野供应日本日立HITACHI高解析度FEB测量装置CG6300（HITACHI CD-SEM）高解析度FEB测量装置（CD-SEM）CG6300通过电子光学系统的全新设计提高了解析度，并进,测量。成都西野供应日本日立HITACHI高解析度FEB测量装置CG6300（HITACHI CD-SEM）

JC4-10读数显微镜是种袖珍型便携式的显微测量仪器。对粉末颗粒、表面凹坑、划痕、断层、涂面厚度等在线质控检测之用。其测微目镜部件还可以配各种复杂光学目视仪器上作读数显微测量之用。读数显微镜,JC4-10是种袖珍型便携式的显微测量仪器。对粉末颗粒、表面凹坑、划痕、断层、涂面厚度等在线质控检测之用。其测微目镜部件还可以配各种复杂光学目视仪器上作读数显微测量之用。

人机交互式纤维直径测量分析仪。该仪器通过高分辨率的工业摄像机将光学显微镜与 计算机相连，依靠专业的分析软件完成纤维直径和截面积的测试等工作，并可测量出混纺纤维中各纤维的含量。,纤维细度综合分析仪适用于各种纤维直径测量，截面分析以及纺织品成份含量测量。符合标准：GB/T 10685、FZ/T 30003、SN/T 0756、AATCC 20A等。纤维细度综合分析仪是新型

METAM LV金相显微镜 成功材料显微专家追求**性能光学工具的*佳选择，在材料研发，质量控制和失效分析领域，从微观结构分析到微粒测量操作，及其他高挑性的应用，江南倒置金相显微镜都为您呈现**的光学性能；欢迎选购METAM LV金相显微镜。

上海上光新光学测量显微镜15J小型零部件测量，操作方便和经久耐用。放大倍数：25×，100×测量范围X-Y：50×13mm测量工作台：Φ120mm，玻璃台面Φ80mm旋转平台：360o旋转，游标6′测微手轮：格值0.01mm可扩展视频测量和软件测量