MiniTest 7200FH霍尔效应测厚仪
MiniTest 7200FH霍尔效应测

MiniTest 7200FH霍尔效应测仪,MiniTest 7200FH霍尔效应测仪**厚度测量,便携式的厚度测量工具,可准确测量达10mm的材料。便携而小巧的外形 使其可在生产现场和实验室进行操作。

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测厚规|日本TECLOCK测厚规SM-112 SM-112
规|日本TECLOCK测规SM-112

规|日本TECLOCK测规SM-112.在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测规可以作为物品检测时的基础测量

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MiniTest 4500涂层厚度测量仪 MiniTest 4500
MiniTest 4500涂层厚度测量

MiniTest 4500涂层厚度测量仪,MiniTest 4500涂层厚度测量仪还提供蓝牙输出,用于无线数据直接传输到移动设备,如智能手机和打印机。所有主机功能都可以直接按下发光键盘上的一个按键来触发。符合人体工程学设计的带有背光照明的大型显示屏可提高用户的舒适度。

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时代TC130超声波测厚仪
时代TC130超声波测

原理:时代TC130超声波测仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度,。时代天晨超声波测量仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器,采用微电脑对数据时行分析、处理、显示,采用高度优化的测量电路,具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点

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高精度涂层测厚仪 TT2610
高精度涂层测

TT2610高精度涂层测仪(也叫覆层测仪、涂镀层测仪、漆膜测仪)是一种数显型便携式测量仪,能快速、无损伤、精密地进行涂镀层厚度测量。TT2610高精度涂层测仪应用于电镀层,油漆层,陶瓷层,,氧化膜,磷化层,纸张的厚度测量。既可用于实验室,也可用于工程现场,广泛地应用在金属加工业、化工业、涂装业、商检等领域,是材料保护专业必备仪器。

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SHG梳式湿膜厚度规 SHG
SHG梳式湿膜厚度

SHG梳式湿膜厚度规精密的不锈钢材质,经久耐用,可重复使用。每片湿膜梳片上有公制微米为测量单位。五个量程供选,*高至950um。每个湿膜梳有10个测量数值(阶齿)。

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道路标线厚度测量仪 TC-T13
道路标线厚度测量

道路标线厚度测量仪采用OLED显示屏,读取数据直观方便。道路标线厚度测量仪适用于道路养护单位、路标漆制造商、施工单位、质量监督部门和监理单位等对标线涂层厚度的质量控制、检验。

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涡流相位测厚仪 PHASCOPE PMP10 DUPLEX
涡流相位测

涡流相位测仪/相位敏感电涡流法厚度测试仪/铁上镀锌和油漆测仪PHASCOPE PMP10 DUPLEX是一款可无损测量钢铁上双涂层(镀锌再镀漆)厚度的手持式仪器,PHASCOPE PMP10, DUPLEX涡流相位测仪配备ESG20探头为带微芯片的智慧型探头,用于测量油漆/Zn/Fe双涂镀层体系的涂镀层厚度

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DJH-E电解式测厚仪 DJH-E
DJH-E电解式测

。阳极溶解通过阳极溶解镀层达到基体时的电位变化及所需时间来进行镀层厚度测量测量基材:金属、塑胶等基材。测量镀层:铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉等金属镀层,镍合金镀层,复合镀层DJH-E电解式测,DJH-E电解式测测量方法:阳极溶解库仑法,符合ISO2177标准测量原理:利用法拉第原理设计,其过程类似于电镀,但电化学反应的方向相反,是电解除镀。库仑法测是对被测部分的金属镀层进行局部

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仪力信548湿膜测厚仪 仪力信548
仪力信548湿膜测

仪力信548湿膜测仪erichsen548测仪按照楔形切割原理测量任何基材上涂层厚度测量多层涂层上每一层厚度通用型测仪器。

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Elcometer 卷材涂料湿膜轮 Elcometer3230
Elcometer 卷材涂料湿膜轮 Elcometer3230

与Elcometer 3230 湿膜轮相似,但测量卷材涂料湿膜厚度。由三个圆轮组成,外侧的两个圆轮外圈为滚齿形,在很滑的涂层上或基体快速移动时可测量厚度。沿湿膜滚动湿膜轮,中心轮湿润部分末端的读数即为湿膜厚度。如果知道涂层的干、湿比率,便可通过湿膜厚度计算干膜厚度

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MCT200涂层测厚仪 MCT200
MCT200涂层测

MCT200涂层测仪是便携式涂(镀)层测仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂层(如油漆、防腐层)、镀层厚度测量,也可进行薄膜厚度测量

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FSM 413 红外干涉测量设备 FSM 413 红外干涉测量设备
FSM 413 红外干涉测量设备 FSM 413 红外干涉测量设备

FSM 413 红外干涉测量设备 , 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT),FSM 413 红外干涉测量设备:美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,总部位 于圣何塞,多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备,客户遍布全世界

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