DM4E超声波测厚仪的性能：德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能**。其中DM4和DM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。

G2-205电子式厚度计品牌:孔雀牌“PEACOCK” 型号 *小读值mm 精度mm 可测深度mm 测量喉深mm 测钻样式 测定压力N以下 G2-205 0.001 0.01 20 33 ?10mm 1.1

品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □适用范围广：适用所有基材和各种表层的厚度测量，没有任何其它型号能与CMI700的适用范围相比 □服务优势：具有*…

在用到工业涂层的项目中，易高312 Elcomotor™用来测量其干膜厚度。有整体式和分体式，铁基（只测量钢铁板）和铁非铁基双用（测量钢铁板或铝板）的不同型号可供选择。只有工业涂层项目领域可以使用该型号的仪器，易高公司对保护性涂层（即基体经过喷砂处理的）项目领域的客户不推荐该型号。

，通过一定过滤面积和在一定时间（30分钟）内的静失水量。同时也可测量钻井泥浆失水后所形成的泥饼厚度。产品分打气筒式、带减压器失水仪、打气筒式失水仪，以自带打气筒来提供气源，操作简易，携带方便, 本仪器根据中华人民共和国标准GB/T 16783.1《石油天然气工业 钻井液现场测试 **部分：水基钻井液》中有关章节规定的要求设计和制造的，适用于测量钻井泥浆在工作压力（0.69Mpa）作用下

厚度测量仪适用于研发和半导体，FPD，纳米技术，电子材料及特殊薄膜生产线中的薄膜测量.例如在半导体行业，需根据图样**地获取晶圆表面的各个薄膜沉积。薄膜测量系统是用来监控工序并通过测量薄膜的厚度决定,产品的质量。 测量薄膜厚度有许多种方法。其中*常见的是基于机械技术的触针方法，显微镜技术和光学技术。 韩国科美公司的薄膜厚度测量系统，采用的是光学技术方法。因而由薄膜表面的反射光和基板表面反射光

Z-CHECK 600是一款高精度、非接触式的锡膏厚度测量系统，能建立10条生产线的SPC报告

AK-30涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量, 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》

该变送器与电涡流传感器配套使用，主要用于测量旋转机械的轴向位移、胀差或轴振动以及涂层厚度，体积小，安装方便，可与计算机、PLC、DCS等设备连接。

QUL湿膜测厚仪技术参数： 执行标准GB/T1764-79GB/T134522-92ISO2808-74测量范围：0-150μm测量精度：15μm 详细介绍： 用途：测定油漆，涂料的湿膜厚度试验技术特征：适用于施工现场的湿膜厚度测

广州美国狄夫斯高(DeFelsko) 200测厚仪对于塑胶底材、木材、混凝土表面涂层厚度的测量，目前全世界*普遍的方法是采用破坏法来测量，但破坏法造成了涂层的损伤。PosiTector 200型,的研发成功顺利解决了这个问题。它操作使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 广州美国狄夫斯高(DeFelsko) 200测厚仪直接测量，测量大多数涂层时无需调

SpectraThick Series ST2000光学薄膜测厚仪是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。 这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为 In-Line monitoring 仪器使用。

BK-250 板厚测量仪 BK-250 测量仪用于精密测量覆铜层压板、印制线路板和其它板材的厚度。日本原装三丰千分表，数 式显示读数为小数点以后 三位，为了保证**的读数，该机采用脚开关操作，以便,操作者的双手可拿住被测材料进快速和**的测试。 长臂板厚测量仪技术规范 ● 用于覆铜层压板、印制线路板和其他板材的厚度测量 ● 测量范围（ mm ）： 0-500 ● 测量行程（ mm ）： 25