测厚规适用行业：纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。原 理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。 指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

将仪器放在桌子上，使用简便，数字式读数，可测量瓦楞纸板的厚度，符合EFECO，ISO，DIN，UNE，TAPPI等国际标准

应用：石油、造船、电站、机器制造业及压力容器、化工设备锅炉、储油罐等厚度测量和腐蚀测量。

产品说明： 概述　　本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，可满足多种测量的需要。适用范围　　本仪器采用了磁性,和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层

主要用于位移测量和控制，并可广泛的用于测量预先被变成位移的各种物理量，如伸长、膨胀、力、张力、差压、加速度、振动、应变、流量、厚度、重量等.

,能在一次测量中同时测出涂层厚度和零件壁厚，Auto-V测量模式,适用于无涂层零件，但简化了传统的厚度测量,可在不知道材料声速的情况下测量零件厚度,无需附加校准*可穿过涂层测量*高对比度,*适用于各种条件下的腐蚀测量,带涂层零件测量及在高温下测量*直观的波形显示、字母输入的数据记录、灵活的数据记录格式，可存储读数、A扫描和注解*DMS 2TC 带采用TopCoat**技术的数据记录器

显示技术。 通过把椭圆偏振法与显微镜法相结合，椭偏光学成相系统保留了传统椭偏法对厚度测量具有高灵敏度的优点，并且具有测量面积大、取样速度快、横向分辨率高和结果直观等优点。其平面精度已经能够达到1μm，立体,椭圆偏振显微实时成像分析技术是在传统的消光（null）和离消光（off-null）椭圆偏振法基础上，结合数字处理技术发展出来的、旨在实时获取纳米尺度结构的表面或界面信息和纪录快速动力学过程的测量和

用 途: 投影立式光学计是精密光学机械端度仪器.它是利用标准量块与被测件相比较的方法来测量零件外形的微差尺寸,是工厂计量室、车间检定站或制造量具、工具与精密车间常用的精密仪器之一。 它可以检定量块以及高精度的柱形量规，对于圆柱形、球形等工件的直径或样板工件的厚度以及外螺纹的中径均能作比较测量。

德国EPK(Elektrophysik)公司一直致力于开发和生产各种用于表面处理行业的精密测量仪器。作为无损涂层厚度测量领域的先驱，EPK公司与各标准化组织和研究院一道，成功地推进了涂层厚度测量在世界范围内的标准化进程。大量的**技术与成果表明EPK公司是该生产领域的佼佼者。

应用：用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。