隔离器体积小，结构紧凑，机壳厚度只有 6.2mm。模块化表芯设计，低功耗，无需零点及满度电位器调校。输入、输出、供电电源之间电磁隔离，并符合相关抗电磁干扰要求。可以与单元组合仪表及DCS、PLC等系统,直流电压信号隔离器MS6065 直流电压信号隔离器。将模拟量的直流电压信号经过隔离传送，转换成所需的直流信号输出给其它仪表，信号隔离能有效消除地回路。解决工业现场干扰及信号转换传输及匹配问题。该

薄膜分析测量系统是专门针对半导体、材料、生物医学薄膜的实验室分析及在线监测开发的，用于测量薄膜反射率及膜层厚度的综合测量系统。该系统基于白光反射及干涉的原理来确定光学薄膜的厚度。功能强大,的AvaSoft-TFProbe应用软件不仅包含绝大多数常用材料及膜层的n和k值的内置数据库，并且其独特的算法可以对未知n和k值的膜系进行测量，拟合计算膜系材料的n和k值，并代入算法计算出膜层厚度

TD300型磁性测厚仪是一种小型便携式仪器，磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。能够快速、无损、精密地进行铁基体的涂、镀层厚度的测量。

测 厚 系 列 QUJ型 漆膜测厚仪 依据GB/T 13452.2-92、ISO 2808-1984设计制造。是利用千分表刻度盘指示被测物的厚度以μm表示。适用于测量磁性、非磁性物体上涂层膜层厚度。漆膜必须硬到足以,经受住与千分尺卡头紧密接触时而无压痕。设备仪器：(1) 测厚仪：精度达到2μm，重复性高(2) 千分表每年需经省市**法定计量部门鉴定。

，性能稳定可靠，功能齐全的特点。对多数非合金型金属镀层厚度的测定适用，是国际标准中首推的一种镀层测厚方法一库仑法类仪器。使用本仪器可以保障用户单位的产品质量，防止原材料的能源的浪费。,微电脑多功能电解测厚仪，电解涂层测厚仪，电解测厚仪本机属于微电脑多功能电解测厚仪是*新一代的金属镀层电解测厚仪，该仪器是根据电化学中的库仑定理（Q=nF）与现代微电脑技术结合的产物，具有结构先进

TY-2002手提式测厚仪 TY-2002手提式测厚仪适用于测量电缆厚度及硫化橡胶制品的厚度，符合GB2951.1《电线电缆绝缘机械性能试验方法》

本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。 既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，可满足多种测量的需要。适用范围本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、

微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得 XDLM?-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题

料双面带金属护网。3.可提供50mm,69mm,90mm等其它多种厚度。4.逐台激光扫描计数MPPS效率：95%-99.999995%（EN1882）。,无隔板高效空气过滤器广泛用于光学电子、LCD液晶制造，生物医药、精密仪器、胶片和光纤设备，PCB印刷等行业无尘净化车间的空调末端送风处 。1.特有无缝密封技术，密封效果更好，更持久，不易泄露；2.滤

CMI563表面铜厚测试仪专为测量刚性或柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。CMI563测厚仪采用微电阻测试技术，提供了准确和**测量表面铜铜厚（包括覆铜板、化学铜和电镀铜板）的方法。

TT100超声波测厚仪测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

kett膜厚仪LE-200J特点：　　本仪器采用了磁性测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能.